SWIR 렌즈
단파 적외선(SWIR) 파장 대역은 가시광선 및 기타 열 대역에 비해 고유한 이미징 이점을 제공합니다. 전자 기판 검사, 재료/식품 분류, 태양 전지 검사, 품질 검사 및 보안 응용 분야를 위한 산업용 머신 비전 분야에서 조용히 성장하고 있습니다. SWIR 렌즈는 다른 감지기나 카메라가 유한한 세부 사항을 인식할 만큼 민감하지 않은 경우에 활용됩니다.
본 상품은 맞춤제작이 가능합니다. RFQ 양식으로 귀하의 사양을 알려주십시오.
| 부품 번호 | 파장(μm) | 초점 거리 (mm) | 초점 유형 | F# | BWD(mm) | 산 | 탐지기 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LSW02514640 * NEW * | 0.9 - 1.7 | 25 | Manual | 1.4 | 4.3 | 25.4-32TPI | 640 x 480, 25μm |
| LSW02520640 * NEW * | 0.9 - 1.7 | 25 | Manual | 2.0 | 9.9 | C 마운트 | 640 x 480, 25μm |
| 인프라-SW141.1-15 * NEW * | 0.9 - 1.7 | 14 | Manual | 1.1 | 9.4 | C 마운트 | 640 x 512, 15μm |
| LSW20024640V2 | 0.9 - 1.7 | 200 | Manual | 2.4 | 13.5 | C 마운트 | 640 x 512, 15μm |
| LSW07515640 | 0.9 - 1.7 | 75 | Manual | 1.5 | 12.5 | C 마운트 | 640 x 480, 25μm |
| LSW05014640 | 0.9 - 1.7 | 50 | Manual | 1.4 | 6.7 | M37x0.5 | 640 x 480, 25μm |
| 인프라-SW2003.0-21 | 0.9 - 1.7 | 200 | Manual | 3.0 | 12.5 | C 마운트 | 1280 x 1024, 10μm |
| 인프라-SW122.5-15 | 1.5 - 5.0 | 12 | Manual | 2.5 | 33.1 | 총검 | 640 x 512, 15μm |
| 인프라-SW252.5-15 | 1.5 - 5.0 | 25 | Manual | 2.5 | 33.1 | 총검 | 640 x 512, 15μm |
| 인프라-SW253.0-17 | 1.5 - 5.0 | 25 | Manual | 3.0 | 33.1 | 총검 | 1024 x 768, 17μm |
| 인프라-SW502.5-15 | 1.5 - 5.0 | 50 | Manual | 2.5 | 33.1 | 총검 | 640 x 512, 15μm |
| 인프라-SW502.3-17 | 1.5 - 5.0 | 50 | Manual | 2.3 | 39.4 | 총검 | 1024 x 768, 17μm |
| 인프라-SW1002.3-17 | 1.5 - 5.0 | 100 | Manual | 2.3 | 33.1 | 총검 | 1024 x 768, 17μm |
| 인프라-SW1002.5-15 | 1.5 - 5.0 | 100 | Manual | 2.5 | 33.1 | 총검 | 640 x 512, 15μm |
| 인프라-SW2002.5-15 | 1.5 - 5.0 | 200 | Manual | 2.5 | 33.1 | 총검 | 640 x 512, 15μm |
| 인프라-SW252.5-30 | 0.9 - 2.5 | 25 | Manual | 2.5 | 13.5 | C- 마운트 | 320 x 256, 30μm |
| 인프라-SW352.0-30 | 0.9 - 2.5 | 35 | Manual | 2.0 | 13.4 | C- 마운트 | 320 x 256, 30μm |
| 인프라-SW502.0-30 | 0.9 - 2.5 | 50 | Manual | 2.0 | 13.5 | C- 마운트 | 320 x 256, 30μm |
| 인프라-SW752.0-30 | 0.9 - 2.5 | 75 | Manual | 2.0 | 13.5 | C- 마운트 | 320 x 256, 30μm |
| 인프라-SW1002.0-30 | 0.9 - 2.5 | 100 | Manual | 2.0 | 13.5 | C- 마운트 | 320 x 256, 30μm |
| 인프라-SW2002.0-30 | 0.9 - 2.5 | 200 | Manual | 2.0 | 13.5 | C- 마운트 | 320 x 256, 30μm |
SWIR 렌즈 응용 분야
SWIR 렌즈 지식 허브
적외선 광학은 근적외선(NIR), 단파 적외선(SWIR), 중파 적외선(MWIR) 또는 장파 적외선(LWIR) 스펙트럼에서 빛을 수집, 집중 또는 시준하는 데 사용됩니다....
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SWIR 렌즈 FAQ
SWIR(단파 적외선) 렌즈는 가시광선 영역 너머인 0.9~2.5µm 파장 범위의 빛을 집중시키도록 특별히 설계되었습니다. 가시광선용으로 제작된 일반 렌즈와 달리, SWIR 렌즈는 특수 소재와 코팅을 사용하여 SWIR 범위에서 높은 투과율과 이미지 품질을 보장합니다.
SWIR 렌즈는 다음을 포함한 다양한 분야에서 활용됩니다.
- 머신 비전 및 산업 검사
- 식품 품질 관리
- 반도체 검사
- 감시 및 보안 이미징
- 농업 모니터링
- 생체의학 영상
빛이 부족하거나 어두운 환경에서도 이미지를 포착할 수 있는 능력은 이러한 응용 분야에서 매우 귀중합니다.
일부 표준 렌즈는 SWIR 스펙트럼의 일부를 투과할 수 있지만, SWIR에 최적화되어 있지는 않습니다. SWIR용으로 특별히 설계된 렌즈를 사용하면 원하는 파장 범위에서 더 나은 화질, 수차 감소, 그리고 더 높은 투과 효율을 얻을 수 있습니다.
SWIR 렌즈는 일반적으로 다음과 같이 SWIR 범위에서 높은 투과율을 갖는 유리 소재로 만들어집니다.
- 용융 실리카
- 규소
- 불화칼슘(CaF₂)
- 사파이어
- 칼코게나이드 유리
이러한 재료는 광학적 특성과 내구성을 고려하여 선택되었습니다.
AR 코팅은 렌즈 표면을 통한 반사를 최소화하고 투과율을 극대화합니다. SWIR 렌즈에는 특수 AR 코팅이 적용되어 0.9~2.5µm 범위에서 최적의 성능을 보장하고, 이미지 대비를 향상시키고 미광을 줄입니다.
호환성은 센서 크기, 마운트 유형, 스펙트럼 응답과 같은 요소에 따라 달라집니다. Wavelength Opto-ElectronicSWIR 렌즈는 다양한 SWIR 카메라와 호환되도록 설계되었지만 최적의 성능을 보장하려면 사양을 확인하는 것이 필수적입니다.
Wavelength Opto-Electronic 12mm, 25mm, 50mm, 75mm, 100mm, 200mm 등 다양한 초점 거리의 SWIR 렌즈를 제공합니다. 초점 거리는 원하는 시야각과 적용 분야 요구 사항에 따라 선택하시기 바랍니다.
네, 많은 SWIR 렌즈에는 수동 초점과 조정 가능한 조리개(F/#) 설정이 함께 제공되어 사용자가 특정 이미징 조건과 피사계 심도 요구 사항에 맞게 렌즈를 미세하게 조정할 수 있습니다.
다양한 SWIR 렌즈를 직접 탐색하고 구매할 수 있습니다. Wavelength Opto-Electronic맞춤 지원이나 문의 사항이 있으시면 언제든지 문의해 주세요.
