光学系のカスタマイズ

高品質のフォトニクスソリューションと光学システムのカスタマイズをお探しですか? もう探す必要はありません Wavelength Opto-Electronic、当社の研究開発チームは、この分野での長年の経験と深い専門知識を備えています。

当社は、システム開発および統合において、以下を含む（ただしこれらに限定されない）幅広い機能を提供しています。

光学特性検査装置
モーターおよび制御ソフトウェアを含む光学モジュール
レーザー出力校正システム
バイオイメージングシステム
各種光センサー等のシミュレーション、トラブルシューティング

私たちは、満足したクライアントのビジョンを実現してきた実績があり、お客様にも同じことができると確信しています.

注目のカスタマイズプロジェクト

カスタムビームプロファイラー

レーザービームプロファイリングシステムは、レーザーワークフローのあらゆる段階をサポートするよう設計された、拡張性の高い単一プラットフォームです。340～2100nmの広い波長範囲と1mW～3kWの出力範囲に対応し、可視光から短波長赤外（SWIR）までの波長範囲において、正確で再現性の高いビーム特性評価を実現します。切り替え可能なデュアルセンサーと最大60mmのアパーチャーに対応するビームリデューサーにより、卓越した柔軟性を実現します。また、ワンクリックレポート機能により、迅速かつ標準化された文書化によって品質管理を効率化します。

部門間でデータの連続性を維持するように設計されており、プロジェクトの進展に伴う再トレーニングを最小限に抑え、計測コストを削減します。過酷な環境向けに設計されたこのシステムは、3kWの空冷式ビームダンプと温度モニタリング機能を統合し、産業環境においても安全な高出力測定を実現します。防滴パッド入りの輸送用ケースがシステム全体を保護することで、現場での確実な導入を実現します。

組立および品質検査装置

小型で表裏の判別が困難な成形レンズの組立ズレや欠陥検査に特化して開発された装置です。

試験機の主な機能は、ハウジングに対するレンズアセンブリの偏心測定、レンズの上下逆さのチェック、およびレンズ表面のヒケなどの欠陥のチェックです。

高精度デュアルFOVモジュール

精密デュアルFOVモジュールは、633nmの軸上アクロマートアーキテクチャに基づいて設計されています。このシステムは色収差を最小限に抑え、ワークピースの歪みのないリアルタイム画像を提供します。チューブレンズは、アプリケーションのニーズに合わせて視野と倍率を定義します。TB-633-56-D15（WFOV）は、全視野アライメントとプロセスセットアップに1倍の倍率を提供し、TB-633-798-D15（NFOV）は、詳細検査と微細な特徴評価に14.25倍の倍率を提供します。この柔軟な構成により、アライメントエラーや解釈の推測なしに、明確な視覚フィードバックが得られます。

システムの核となるTSLA-1064-633-18-56スキャンレンズは、レーザー走査経路を誘導すると同時に、主要な撮像素子としても機能するという二重の役割を果たします。16×18mmのスキャンフィールド、64.07mmの作動距離、5.3～9.33µmのスポットサイズを備え、加工領域と撮影画像間の緊密な相関を確保します。統合された光路は正確な空間対応を保証し、特徴品質、エッジ定義、そしてプロセス全体の一貫性を定量的に分析することを可能にします。NFOV（近視野）で5.3µmまでの解像度を実現するこのシステムは、レーザーモニタリングを主観的な観察からデータ駆動型制御へと変革します。

2 kW フォーカス可能な望遠鏡

2 kW の集束可能な望遠鏡は、長距離ターゲティングに使用され、1060 KW から 1080 KW の公称レーザー出力で 1.5 から 2 nm のシングルモードファイバーレーザーで動作します。その作動距離は 100 m から 800 m の範囲で、16 m から 100 m の距離では集束ビーム径 <=550 mm、全作動距離範囲内で集束ビーム径は <=25 mm です。

この望遠鏡は、外部システムからの距離信号を受け取り、10 Hz の周波数で焦点を合わせます。ズームレンズに十字線があり、ターゲット上のレーザービームの中心と異なる作動距離とズーム倍率を示します。全体として、コンパクトで出力密度が高く、スポットサイズを長距離範囲用に小さく調整することができ、観察用のズームレンズとうまく調整できます。

1kWファイバーレーザー校正システム

100Wから1kWまでの1064nmレーザーに対応する、1kWファイバーレーザーパワーメータ校正システムを構築しました。このシステムは、基準パワーメータ（REF）と校正対象ユニット（UUC）間の間接比較をサポートし、測定不確かさの低い正確な校正曲線（測定値と標準値の比較）を生成します。

重要な技術的課題は、ビームサンプリング時の偏光誘起変動の管理でした。高出力1064nmレーザー光源は一般的にランダム偏光を示し、ビームスプリッターのわずかな偏光感度でさえ、大きな校正誤差を引き起こす可能性があります。この問題に対処するため、当社のエンジニアは、ビーム軸を中心に90°に配向された2つの同一ビームサンプラーを用いた、革新的な交差型非偏光ビームスプリッター設計を実装しました。この構成により、反射パワーと透過パワーのバランスが効果的に保たれ、偏光依存性の変動が最小限に抑えられます。