회절 광학 소자(DOE)

DOE 기술이 광학 산업에 등장하고 있습니다. 그 응용 분야는 스캐닝 및 계측과 같은 기술 광학부터 바이오 이미징 및 인쇄에 이르기까지 다양합니다. DOE는 입사 빔의 위상과 진폭을 제어하고 독특한 기능을 통해 원하는 출력 패턴으로 빔을 '형성'하기 위해 레이저 시스템에 추가됩니다. 이는 특정 기능을 위해 광자를 유도하기 위해 표면 복합 미세 구조를 사용합니다.

탑 햇 빔 셰이퍼

Top Hat Beam Shaper는 가우스(TEM00) 입력 레이저 빔을 원하는 모양의 균일한 강도 지점으로 변환하는 DOE의 한 형태입니다. 이 출력 지점은 원하는 대로 원형, 정사각형, 직사각형이 될 수 있습니다. 균일한 강도는 가우시안 빔 스폿에 의해 제공되는 집중된 강도 스폿 대신 더 날카로운 모서리를 허용합니다. 이 설정은 레이저 소스, Beam Shaper DOE, 스캔 시스템/렌즈 및 작업 표면으로 구성됩니다.

자료: 융합 실리카
빔 모드: M²<1.5의 SM 또는 TEM ₀₀
전송 효율: ̴ 100%
전반적인 효율성 : ̴ 90-95%
모양: 원형, 직사각형
유형: 창
코팅: AR/AR @ 532nm, 1064nm

부품 번호	파장 (nm)	입력 BeamDia(mm)	F-세타 FL(mm)	DOE 크기(mm)	빔 모양	플랫 탑 빔 크기(μm)
DOE-SCAN-355-100C-3 * NEW *	355	3.0	100	16 X 16 X 3	원형의	20
DOE-SCAN-355-TSL50-C * NEW *	355	3.5	50	16 X 16 X 3	원형의	10
DOE-SCAN-355-160C * NEW *	355	1.0	160	16 X 16 X 5.5	원형의	125
DOE-SCAN-355-160S * NEW *	355	3.5	160	16 X 16 X 3	사각형.	35
DOE-SCAN-532-330	532	3.0	330	-	원형의	120
DOE-SCAN-1064-163	1064	7.0	163	25.4 x 3.0	직사각형의	164×125 /201×126
DOE-SCAN-1064-254C	1064	4.5	254	16 X 16 X 3	원형의	116
DOE-SCAN-1064-163C	1064	5.0	163	25.4 x 3.0	원형의	118
DOE-SCAN-9.4-100	9400	12.0	100	25.4 x 3.0	직사각형의	150 x 200

회절 빔 스플리터

시준된 레이저 광은 입력 빔을 N개의 빔으로 분할하기 위해 Beam Splitter DOE의 어레이(1 x N 또는 M x N)에 입사됩니다. N 개의 출력 빔은 Beam Splitter DOE와 약간의 분리 각도를 만들고 홀수 개의 빔(N)에 대해 원하는 XNUMX차 빔이 존재합니다. 초점 렌즈는 원하는 working distance에서 출력을 얻기 위해 자주 사용됩니다.

자료: 융합 실리카
빔 모드: SM 또는 MM
분리 각도: ≤ 5 °
전송 효율: ̴ 100% 전체 효율성 ̴ 74- 85%
균일성(대비): < 1-3%
XNUMX차: r입사 빔에 대해 <0.5-1%
유형: 창
코팅: AR/AR @ 355nm, 532nm, 1064nm

부품 번호	파장 (nm)	직경 (mm)	두께 (mm)	분리 각도	스팟 수
DOE-355-1x3 * NEW *	355	25.4	3	0.0053˚	3
DOE-355-1x4 * NEW *	355	25.4	3	0.048˚	4
DOE-355-1x8 * NEW *	355	25.4	3	0.048˚	8
DOE-532-1x8 * NEW *	532	25.4	3	0.323/0.232/0.224˚	8
DOE-1064-1x4 * NEW *	1064	15.0	3	1.15˚	4
DOE-1064-1x8 * NEW *	1064	25.4	3	0.646/0.464/0.449˚	8