Spektrofotometry EssentOptics
Spektrofotometr to przyrząd służący do pomiaru przepuszczalności/odbicia światła przy różnych długościach fal dla próbek. Jest powszechnie stosowany w chemii, fizyce, biochemii i biologii molekularnej.
Spektrofotometr działa na zasadzie przepuszczania wiązki światła przez próbkę i mierzenia ilości światła, które jest absorbowane lub przepuszczane/odbijane przez próbkę przy różnych długościach fal. Podstawowe elementy spektrofotometru obejmują źródło światła, monochromator lub selektor długości fali, uchwyt próbki i detektor.
EssentOptics opracowuje spektrofotometry o wysokiej dokładności dla lakierników, koncentrując się wyłącznie na pomiarach optycznych. Wavelength Opto-Electronic jest partnerem marki spektrofotometrów EssentOptics dla Singapur.
PHOTON RT UV-VIS-MWIR
| MODEL | 0217 | 0226 | 0252 | |||
| KONFIGURACJA OPTYCZNA | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Funkcje fotometryczne | %T, %R | |||||
| Efektywny zakres długości fal, nm | 185 - 1700 | 185 - 2600 | 185 - 5200 | |||
| Wbudowany polaryzator, nm | 220 - 1700 | 220 - 2600 | 220 - 5200 | |||
| Schemat optyczny monochromatora | Czernego-Turnera | |||||
| Optyka | Lustro, MgF2 | |||||
| Kanał referencyjny | Tak | |||||
| Skok próbkowania długości fali, nm | 0,25 - 100 | |||||
| Rozmiar plamki na mierzonej próbce, mm | 6 x 2 → 2 x 2 | |||||
| Obrót kąta nachylenia sceny próbki | 0,01 stopni | |||||
| Kąt skrętu fotodetektorów | 0,01 stopni | |||||
| Kompensacja przesunięcia wiązki | -60,0 mm … 0 … +60,0 mm (rzeczywista wartość zależy od położenia detektora) | |||||
| Pomiary zmiennego kąta | 1. 0 – 75 stopni dla przepuszczalności (do 85 stopni ze stolikiem próbnym 7085) | |||||
| Podzakresy długości fal, nm | Ostateczna rozdzielczość widmowa, nm (światło niespolaryzowane) | Dokładność długości fali, nm | Dokładność powtarzania długości fali, nm | |||
| 185 – 990 nm | 0,6 | + / - 0,5 | + / - 0,25 | |||
| 990 – 1700 / 2450 / 2600 nm | 1,2 | + / - 1,0 | + / - 0,5 | |||
| 2450 - 5200 nm | 2,4 | + / - 2,0 | + / - 1,0 | |||
| Poziom światła rozproszonego, % przy 532 nm | ˂ 0,1 | |||||
| Kąt rozbieżności wiązki | +/-1 st | |||||
Dokładność fotometryczna (zakres VIS-NIR) Standardowe materiały odniesienia skalibrowane na spektrofotometrze zgodnym z NIST | (VIS-NIR) +/-0,0045 Abs (1 Abs); +/-0,0025 Abs (0,33 Abs); +/-0,0058 Abs (1.5 Abs) | |||||
Dokładność powtarzania fotometrycznego (zakres VIS-NIR) Określono na podstawie akumulacji 0,1 sekundy, maksymalne odchylenie dla 10 kolejnych pomiarów | (VIS-NIR) 0,0004 Abs (1 Abs); 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (1.5 Abs) | |||||
| Stabilność linii podstawowej, %/godzinę (zakres VIS) | ˂ 0,1 (czas rozgrzewki trwający jedną godzinę) | |||||
| Nienadzorowane pomiary polaryzacji za pomocą wbudowanych polaryzatorów | S, P, (S + P) / 2 | |||||
| Zerowa kolejność / zielona wiązka | Wbudowany, automatyczny | |||||
| Źródła światła, preinstalowane | 1. Lampa deuterowa: 1 szt. | |||||
| Źródła światła, zapasowe | Lampa halogenowa: 2 szt. (w zestawie). Inne zapasowe źródła światła można zamówić dodatkowo | |||||
PHOTON RT 0420
| KONFIGURACJA OPTYCZNA | |
| Schemat optyczny monochromatora | Podwójnie addytywny Czerny-Turner |
| Optyka | Lustro, chronione Ag |
| Kanał referencyjny | Tak |
| Skok próbkowania długości fali, nm | 0,01 do 100 |
| Rozmiar plamki na mierzonej próbce, mm | X 4 3 |
| Funkcje fotometryczne | %T, OD |
| Efektywny zakres długości fal, nm | 340 - 2000 |
Maksymalna rozdzielczość widmowa, nm 400 990-nm 990 2000-nm |
0,06 0,13 |
Dokładność długości fali, nm 400 990-nm 990 2000-nm |
+ / - 0,02 + / - 0,04 |
Dokładność powtarzania długości fali, nm 400 990-nm 990 2000-nm |
+ / - 0,01 + / - 0,02 |
Ostateczna gęstość optyczna, -log10(T) 340 420-nm 420 925-nm 925 2000-nm |
6 8 7 |
| Poziom światła rozproszonego, % przy 532 nm | < 0,000001 (1x10E-6) |
| Kąt rozbieżności wiązki, stopnie | + / - 0,2 |
| Dokładność fotometryczna | (VIS-NIR) |
| Fotometryczna dokładność powtarzania | (VIS-NIR) 0,0004 Abs (1 Abs); 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (1.5 Abs) |
| Stabilność linii bazowej, %/godzinę | < 0,2 (czas rozgrzewki trwający jedną godzinę) |
| Źródła światła | Wysokoenergetyczne źródło plazmy, lampa kalibracyjna długości fali HgAr. Wszystkie źródła wbudowane i wstępnie skonfigurowane |
PHOTON RT 7514 LWIR
| KONFIGURACJA OPTYCZNA | |
| Funkcje fotometryczne | %T, %R |
| Efektywny zakres długości fal, µm | 7,5 - 14,0 |
| Wbudowane polaryzatory, µm | 7,5 - 14,0 |
| Schemat optyczny monochromatora | Czernego-Turnera |
| Optyka | Lustro: Au, Soczewki: ZnSe + AR |
| Pomiar transmisji | Pomiary kątów zmiennych: kąty padania 0 – 60 stopni |
| Pomiar odbicia | Wymienne stoliki na próbki o stałych kątach padania: 10, 30, 45 i 60 stopni Próbka odniesienia: lustro złote |
| Kąt obrotu stołu próbkowego, stopnie | 0,01 |
| Kompensacja przemieszczenia belki, mm | 40 |
| Pomiary polaryzacji bez nadzoru z wbudowanymi polaryzatorami | S, P, (S + P) / 2 |
| Skok próbkowania długości fali, nm | 5 - 100 |
| Rozmiar plamki na mierzonej próbce (światło niespolaryzowane), mm | 2,0 x 6,0 (szer. x wys.) |
| Maksymalna rozdzielczość widmowa (światło niespolaryzowane), nm | 15 |
| Dokładność długości fali, nm | + / – 4,0 |
| Dokładność powtarzania długości fali, nm | + / – 2,0 |
| Dokładność fotometryczna (próbka Ge o grubości 3 mm, 47% T, λ0 = 10,6 µm, AOI = 40) | + / – 0,2% |
| Fotometryczna dokładność powtarzania | + / – 0,1% |
| Stabilność linii bazowej (7,8 µm – 13,0 µm), % / godz.* | + / – 0,3% |
| Poziom światła rozproszonego (7,5 µm – 12,0 µm), % | <0,2 |
| Źródła światła | Lampa IR Lampa weryfikacyjna kalibracji długości fali HgAr |
LINIA 150
| MODEL | 0217 | 0417 |
PARAMETR | OPIS | |
|---|---|---|
| KONFIGURACJA OPTYCZNA | ||
| Funkcje fotometryczne | %T, %R | |
| Efektywny zakres długości fal, nm | 185 - 1700 | 380 - 1700 |
| Schemat optyczny monochromatora | Czernego-Turnera | |
| Optyka | Lustro, Al + SiO2, Al + MgF2 | |
| Kanał referencyjny | Tak | |
| Prędkość skanowania długości fali, nm/min | 3000 (przy 5 długościach fali o zmiennej długości fali) | |
| Rozmiar plamki na mierzonej próbce, mm | Transmisja: 6,0 x 5,5 Współczynnik odbicia: 1,0 x 1,0 | |
| Skok próbkowania długości fali, nm | 0,25 - 100 | |
Maksymalna rozdzielczość widmowa, nm 185 (380) – 990 nm 990 - 1700 nm |
2,00 4,00 |
2,00 4,00 |
| Dokładność długości fali, nm | 0,5 | |
| Dokładność powtarzania długości fali, nm | + / – 0,25 | |
| Poziom światła rozproszonego, % maks. (@ 532 nm) | <0,1 | |
| Dokładność fotometryczna | (VIS-NIR) +/-0,0045 Abs (1 Abs); +/-0,0025 Abs (0,33 Abs); +/-0,0058 Abs (1.5 Abs) | |
| Fotometryczna dokładność powtarzania | (VIS-NIR) 0,0004 Abs (1 Abs); 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (1.5 Abs) | |
| Stabilność linii bazowej (UV-VIS), % / godz. | <0,1 | |
| Źródła światła | Lampa deuterowa, lampa halogenowa, lampa weryfikująca kalibrację długości fali HgAr | Lampa halogenowa, lampa weryfikująca kalibrację długości fali HgAr |
LINZA 2752 MWIR
| KONFIGURACJA OPTYCZNA | |
| Funkcje fotometryczne | %T |
| Efektywny zakres długości fal, nm | 2700 - 5200 |
| Schemat optyczny monochromatora | Czernego-Turnera |
| Optyka | Lustro: Al + MgF2, Soczewki: CaF2 |
| Kanał referencyjny | Tak |
| Skok próbkowania długości fali, nm | 0,5 - 100 |
| Prędkość skanowania długości fali, nm/min | 3000 (przy 5 długościach fali o zmiennej długości fali) |
| Rozmiar plamki na mierzonej próbce, mm | od 4.0 x 3.0 do 8.0 x 6.0 |
| Typowa rozdzielczość widmowa, nm* | 8,0 |
| Dokładność długości fali, nm | 4,0 |
| Dokładność powtarzania długości fali, nm | + / – 2,0 |
| Poziom światła rozproszonego, % maks. | 0,2 |
| Dokładność fotometryczna** | NRC NG11 SRM; +/-0.010Ab (0,49Ab) +/-0.011Ab (0,82Ab) +/-0.013Ab (1,00Ab) +/-0.015Ab (1,26Ab) |
| Dokładność powtórzeń fotometrycznych** | NRC NG11 SRM: +/-0.0016Ab (0,49Ab) +/-0.0036Ab (0,82Ab) +/-0.008Ab (1,00Ab) +/-0.013Ab (1,26Ab) |
| Stabilność linii bazowej, % / godz.** | + / – 0,3 |
| Źródła światła | Lampa IR |
Informacje o spektrofotometrach EssentOptics
FOTO RT
PHOTON RT to jedyny na świecie spektrofotometr zaprojektowany specjalnie do rzeczywistej metrologii powłok optycznych – umożliwiający wiarygodną i identyfikowalną charakterystykę powłok w warunkach zbliżonych do warunków polowych. W unikalny sposób łączy on szerokopasmową kontrolę polaryzacji i pomiary zmiennego kąta w niezrównanym zakresie UV–MWIR (220–5200 nm), zapewniając dogłębny wgląd w rzeczywistą wydajność optyki cienkowarstwowej wielowarstwowej.
PHOTON RT 420
Dzięki niespotykanej dotąd rozdzielczości widmowej 0.06 nm, PHOTON RT 0420 Ultra oferuje niezrównaną elastyczność w zakresie kwalifikacji wydajności najnowocześniejszych filtrów. Jego zaawansowane możliwości umożliwiają szerokopasmowe pomiary aż do OD8, z możliwością charakteryzowania nachylenia zbocza nawet do 0.02%.
Zaprojektowany tak, aby sprostać rygorystycznym wymaganiom stawianym powłokom ultrafioletowym, PHOTON RT 0420 Ultra charakteryzuje się zakresem długości fal od 340 nm do 2000 nm i jest dostosowany do szerokiej gamy powłok w zaawansowanych zastosowaniach, w tym LIDAR-ów, mikroskopii fluorescencyjnej, bezpieczeństwa laserowego, telekomunikacji, eksploracji kosmosu, obronności i bezpieczeństwa.
PHOTON RT 7514 LWIR
Dokładne i wiarygodne pomiary widmowe powłok optycznych w podczerwieni stanowią obecnie jedno z najpoważniejszych wyzwań. Producenci optyki na całym świecie stosują coraz bardziej zaawansowane powłoki IR do swoich układów optycznych, dążąc do udoskonalenia wykrywania i identyfikacji obiektów na duże odległości. Często możliwości produkcyjne w zakresie uzyskiwania tych powłok optycznych przewyższają istniejące możliwości metrologiczne w zakresie certyfikacji ich jakości.
Spektrofotometr PHOTON RT 7514 to specjalnie zaprojektowany instrument, który skutecznie sprosta tym wyzwaniom. Mierzy transmisję i odbicie powłok w zakresie widmowym LWIR. Niezrównaną cechą PHOTON RT 7514 jest możliwość wykonywania automatycznych pomiarów pod zmiennymi kątami padania (do 60 stopni) światłem spolaryzowanym. Aby ułatwić te wymagające testy, wbudowana funkcja dokładnie kompensuje przesunięcie wiązki pod dużymi kątami, zapewniając pomiary polaryzacji S i P w zaledwie kilka minut. Obsługiwana jest rekordowa maksymalna grubość próbki wynosząca 40 mm.
LINIA 150
Spektrofotometr LINZA 150 przeznaczony jest do szerokopasmowego pomiaru transmisji i odbicia soczewek i zespołów wielosoczewkowych (obiektywów), wprowadzając zupełnie nowy wymiar do możliwości metrologii optycznej.
Soczewki występują w ogromnej różnorodności rozmiarów i kształtów, co sprawia, że ich pomiar jest niezwykle trudny. Z uwagi na trudności związane z pomiarem transmitancji lub odbicia soczewek, inżynierowie optycy często muszą łączyć dane z kilku próbek, aby uzyskać podstawowe informacje na temat parametrów optycznych soczewki. Jednak ze względu na charakter każdej technologii osadzania, powłoka na soczewkach różni się od powłoki na próbce. Jeszcze trudniejszą do pokonania barierą jest konieczność pomiaru parametrów pozaosiowych soczewki optycznej.
Dzięki LINZA 150 uzyskujesz dane transmisji w osiach i dane odbicia w dowolnym punkcie powierzchni soczewki, bez konieczności nadzoru. Dzięki temu klienci otrzymują wyłącznie doskonałe soczewki z idealnymi powłokami, zatwierdzone do montażu w zespołach soczewkowych. Te cenne dane pomagają również naszym klientom w analizie wstecznej i ulepszaniu technologii osadzania.
Spektrofotometr LINZA 150 to również doskonałe urządzenie dla laboratorium kontroli jakości (QA/QC), gwarantujące zgodność soczewek od dostawcy z Państwa specyfikacjami. Urządzenie doskonale nadaje się zarówno do rutynowych pomiarów soczewek, jak i do zaawansowanego udoskonalania technologii powlekania soczewek.
LINZA 2752 MWIR
Większość elementów optycznych to soczewki. Soczewki występują w szerokiej gamie kształtów i rozmiarów, zarówno wypukłych, wklęsłych, cylindrycznych, jak i asferycznych. Soczewki są powlekane w komorach próżniowych po umieszczeniu na uchwycie lub uchwycie planetarnym.
Ze względu na charakter procesu osadzania próżniowego nie ma możliwości pomiaru rzeczywistej transmisji ani odbicia soczewek w czasie rzeczywistym. Dlatego do monitorowania procesu zawsze używa się płaskich próbek. Jednak powłoka na soczewkach często różni się od powłoki na próbce. W wielu zastosowaniach kluczowe znaczenie ma znajomość transmisji rzeczywistej soczewki. Rzeczywistą wydajność optyczną często można przeanalizować dopiero po zainstalowaniu wszystkich soczewek w systemie optycznym. Identyfikacja „złej” soczewki może być czasochłonna i wymagać dużego wysiłku. Koszty te są jeszcze wyższe w przypadku systemów i obiektywów z wieloma soczewkami. Nie trzeba dodawać, że konieczna jest również ocena wydajności spektralnej kompletnych obiektywów!
Spektrofotometr LINZA 2752 skutecznie rozwiązuje te problemy w zakresie pomiarów transmisji w osiach soczewek i obiektywów średnio- i średnio-podczerwonych (MWIR). Dzięki dużej komorze i przesuwnym detektorom można z powodzeniem mierzyć pojedyncze soczewki o średnicy od 10 mm do 150 mm, a także kompletne zespoły soczewek o długości do 500 mm.
Więcej produktów i informacji znajdziesz na naszej głównej stronie internetowej.
