Spectrophotomètres EssentOptics

Un spectrophotomètre est un instrument utilisé pour mesurer la transmission/réflexion de la lumière à différentes longueurs d'onde pour des échantillons. Il est couramment utilisé dans les domaines de la chimie, de la physique, de la biochimie et de la biologie moléculaire.

Un spectrophotomètre fonctionne en faisant passer un faisceau de lumière à travers un échantillon et en mesurant la quantité de lumière qui est absorbée ou transmise/réfléchie par l'échantillon à différentes longueurs d'onde. Les composants de base d'un spectrophotomètre comprennent une source lumineuse, un monochromateur ou un sélecteur de longueur d'onde, un porte-échantillon et un détecteur.

EssentOptics développe des spectrophotomètres de haute précision pour les enducteurs se concentrant exclusivement sur les besoins de mesure optique. Wavelength Opto-Electronic est le partenaire de la marque de spectrophotomètres EssentOptics pour Singapour.

PHOTON RT UV-VIS-MWIR

MODÈLE021702260252
CONFIGURATION OPTIQUE
Fonctions photométriques%T, %R
Plage de longueur d'onde efficace, nm185 – 1700185 – 2600185 – 5200
Polariseur intégré, nm220 – 1700220 – 2600220 – 5200
Schéma optique du monochromateurCzerny Turner
OptiquesMiroir, MgF2
Canal de référenceOui
Pas d'échantillonnage de longueur d'onde, nm 0,25 – 100
Taille de la tache sur l'échantillon mesuré, mm6 x 2 → 2 x 2
Angle de pas de rotation de la platine de l'échantillonDeg 0,01
Angle de pas de braquage des photodétecteursDeg 0,01
Compensation de déplacement du faisceau-60,0 mm … 0 … +60,0 mm
(La valeur réelle dépend de la position du détecteur)
Mesures à angle variable

1. 0 – 75 degrés pour la transmittance (jusqu'à 85 degrés avec l'étage d'échantillonnage 7085)
2. 8 – 75 degrés pour la réflectance absolue (jusqu'à 85 degrés avec la platine porte-échantillon 7085)
3. Plage de rotation du détecteur : 300 degrés… 180 degrés… 16 degrés
4. Plage de rotation de la platine d'échantillonnage : -85 degrés… 0 degrés… +85 degrés

Sous-gammes de longueur d'onde, nmRésolution spectrale ultime, nm (lumière non polarisée)Précision de la longueur d'onde, nmPrécision de répétition de la longueur d'onde, nm
185 – 990 nm0,6+/- 0,5+/- 0,25
990 – 1700 / 2450 / 2600 nm1,2+/- 1,0+/- 0,5
2450 - 5200 nm2,4+/- 2,0+/- 1,0
Niveau de lumière parasite, % à 532 nm0,1
Angle de divergence du faisceau+/- 1 degrés

Précision photométrique (gamme VIS-NIR)

Matériaux de référence standard étalonnés sur un spectrophotomètre traçable NIST

(VIS-NIR)

+/-0,0045 Abs (1 Abs); +/-0,0025 Abs (0,33 Abs); +/-0,0058 Abs (1.5 Abs)

Précision de répétabilité photométrique (gamme VIS-NIR)

Déterminé à l'aide d'une accumulation de 0,1 seconde, écart maximal pour 10 mesures ultérieures

(VIS-NIR)

0,0004 Abs (1 Abs) ; 0,0001 Abs (0,33 Abs) ; 0,005 Abs (1.5 Abs)

Stabilité de la ligne de base, %/heure (gamme VIS)< 0,1 (une heure de préparation)
Mesures de polarisation sans surveillance avec polariseurs intégrés

S, P, (S + P) / 2

Ordre zéro / Faisceau vertIntégré, automatique
Sources lumineuses, préinstallées

1. Lampe au deutérium : 1 unité
2. Lampe halogène : 1 ea
3. Source IR : 1 pièce (modèle 0252)
4. Lampe d'étalonnage de longueur d'onde HgAr : 1 unité

Sources lumineuses, de rechangeLampe halogène : 2 unités (incluses dans l'envoi).
D'autres sources lumineuses de rechange peuvent être commandées en supplément.

PHOTON RT 0420

CONFIGURATION OPTIQUE
Schéma optique du monochromateur Czerny-Turner à double additif
OptiquesMiroir, protégé Ag
Canal de référenceOui
Pas d'échantillonnage de longueur d'onde, nm0,01 à 100 ans, qui
Taille de la tache sur l'échantillon mesuré, mm4 x 3
Fonctions photométriques%T, OD
Plage de longueur d'onde efficace, nm340 – 2000

Résolution spectrale ultime, nm

400 990 nm

990 2000 nm

 

0,06

0,13

Précision de la longueur d'onde, nm

400 990 nm

990 2000 nm

 

+/- 0,02

+/- 0,04

Précision de répétition de la longueur d'onde, nm

400 990 nm

990 2000 nm

 

+/- 0,01

+/- 0,02

Densité optique ultime, -log10(T)

340 420 nm

420 925 nm

925 2000 nm

 

6

8

7
Niveau de lumière parasite, % à 532 nm< 0,000001 (1x10E-6)
Angle de divergence du faisceau, deg+/- 0,2
Précision photométrique

(VIS-NIR)
+/-0,0045 Abs (1 Abs); +/-0,0025 Abs (0,33 Abs); +/-0,0058 Abs (1.5 Abs)

Matériaux de référence standard étalonnés sur un spectrophotomètre traçable NIST

Déterminé à l'aide d'une accumulation de 0,1 seconde, écart maximal pour 10 mesures ultérieures

Précision de répétition photométrique

(VIS-NIR)

0,0004 Abs (1 Abs) ; 0,0001 Abs (0,33 Abs) ; 0,005 Abs (1.5 Abs)

Matériaux de référence standard étalonnés sur un spectrophotomètre traçable NIST

Déterminé à l'aide d'une accumulation de 0,1 seconde, écart maximal pour 10 mesures ultérieures
Stabilité de la valeur de base, %/heure < 0,2 (une heure de préparation)
Sources lumineusesSource de plasma à haute énergie, lampe d'étalonnage de longueur d'onde HgAr.
Toutes les sources intégrées et préconfigurées

PHOTON RT 7514 LWIR

CONFIGURATION OPTIQUE
Fonctions photométriques%T, %R
Plage de longueurs d'onde effectives, µm7,5 – 14,0
Polariseurs intégrés, µm7,5 – 14,0
Schéma optique du monochromateurCzerny Turner
OptiquesMiroir : Au, Lentilles : ZnSe + AR
Mesure de la transmissionMesures à angle variable : angles d’incidence de 0 à 60 degrés
Mesure de la réflexion

Platines porte-échantillons interchangeables avec angles d'incidence fixes : 10, 30, 45 et 60 degrés

Échantillon de référence : miroir doré

Angle d'inclinaison de rotation de la platine porte-échantillon, deg0,01
Compensation du déplacement de la poutre, mm40
Mesures de polarisation automatisées avec polariseurs intégrésS, P, (S + P) / 2
Pas d'échantillonnage de longueur d'onde, nm5 – 100
Taille du spot sur l'échantillon mesuré (lumière non polarisée), mm2,0 x 6,0 (L x H)
Résolution spectrale ultime (lumière non polarisée), nm15
Précision de la longueur d'onde, nm+ / - 4,0
Précision de répétition de la longueur d'onde, nm+ / - 2,0
Précision photométrique (échantillon de Ge de 3 mm d'épaisseur, 47 % T, λ)0 = 10,6 µm, AOI = 40)+/- 0,2%
Précision de répétition photométrique+/- 0,1%
Stabilité de la ligne de base (7,8 µm – 13,0 µm), %/heure*+/- 0,3%
Niveau de lumière parasite (7,5 µm – 12,0 µm), %<0,2
Sources lumineuses

Lampe IR

Lampe de vérification d'étalonnage de la longueur d'onde HgAr

LINZA 150

MODÈLE02170417

PARAMÈTRE

DESCRIPTION

CONFIGURATION OPTIQUE
Fonctions photométriques%T, %R
Plage de longueurs d'onde effectives, nm185 – 1700380 – 1700
Schéma optique du monochromateurCzerny Turner
OptiquesMiroir, Al + SiO2, Al + MgF2
Canal de référenceOui
Vitesse de balayage de la longueur d'onde, nm/min3000 (à un pas d'échantillonnage de 5 longueurs d'onde)
Taille du spot sur l'échantillon mesuré, mm

Transmittance : 6,0 x 5,5

Réflectance : 1,0 x 1,0

Pas d'échantillonnage de longueur d'onde, nm0,25 – 100

Résolution spectrale ultime, nm

185 (380) – 990 nm

990 - 1700 nm

 

2,00

4,00

 

2,00

4,00

Précision de la longueur d'onde, nm0,5
Précision de répétition de la longueur d'onde, nm+ / - 0,25
Niveau de lumière diffusée, % max (@ 532 nm)<0,1
Précision photométrique

(VIS-NIR)

+/-0,0045 Abs (1 Abs); +/-0,0025 Abs (0,33 Abs); +/-0,0058 Abs (1.5 Abs)

Matériaux de référence standard étalonnés sur un spectrophotomètre traçable NIST

Déterminé à l'aide d'une accumulation de 0,1 seconde, écart maximal pour 10 mesures ultérieures

Précision de répétition photométrique

(VIS-NIR)

0,0004 Abs (1 Abs) ; 0,0001 Abs (0,33 Abs) ; 0,005 Abs (1.5 Abs)

Matériaux de référence standard étalonnés sur un spectrophotomètre traçable NIST

Déterminé à l'aide d'une accumulation de 0,1 seconde, écart maximal pour 10 mesures ultérieures

Stabilité de la ligne de base (UV-VIS), % / heure<0,1
Sources lumineusesLampe au deutérium, lampe halogène, lampe de vérification de l'étalonnage de la longueur d'onde HgArLampe halogène, lampe de vérification de l'étalonnage de la longueur d'onde HgAr

LINZA 2752 MWIR

CONFIGURATION OPTIQUE
Fonctions photométriques%T
Plage de longueurs d'onde effectives, nm2700 – 5200
Schéma optique du monochromateurCzerny Turner
OptiquesMiroir : Al + MgF2Lentilles : CaF2
Canal de référenceOui
Pas d'échantillonnage de longueur d'onde, nm0,5 – 100
Vitesse de balayage de la longueur d'onde, nm/min3000 (à un pas d'échantillonnage de 5 longueurs d'onde)
Taille du spot sur l'échantillon mesuré, mmde 4.0 x 3.0 à 8.0 x 6.0
Résolution spectrale typique, nm*8,0
Précision de la longueur d'onde, nm4,0
Précision de répétition de la longueur d'onde, nm+ / - 2,0
Niveau de lumière diffusée, % max.0,2
Précision photométrique**NRC NG11 SRM;
+/-0.010Abs (0,49Abs)
+/-0.011Abs (0,82Abs)
+/-0.013Abs (1,00Abs)
+/-0.015Abs (1,26Abs)
Précision de répétition photométrique**NRC NG11 SRM :
+/-0.0016Abs (0,49Abs)
+/-0.0036Abs (0,82Abs)
+/-0.008Abs (1,00Abs)
+/-0.013Abs (1,26Abs)
Stabilité de la ligne de base, % / heure**+ / - 0,3
Sources lumineusesLampe IR

Informations sur les spectrophotomètres EssentOptics

PHOTON RT

PHOTON RT est le seul spectrophotomètre au monde conçu spécifiquement pour la métrologie des revêtements optiques, permettant une caractérisation précise et traçable de ces revêtements dans des conditions d'utilisation proches de celles du terrain. Il combine de manière unique le contrôle de la polarisation à large bande et les mesures à angle variable sur une plage UV-MWIR inégalée (220-5200 nm), offrant ainsi une analyse approfondie des performances réelles des optiques multicouches en couches minces.

PHOTON RT 420

Doté d'une résolution spectrale inédite de 0.06 nm, le PHOTON RT 0420 Ultra offre une flexibilité inégalée pour la qualification des performances des filtres de pointe. Ses capacités avancées permettent des mesures à large bande jusqu'à une densité optique de 8 (OD8), avec la possibilité de caractériser une pente aussi faible que 0.02 %.

Conçu pour répondre aux exigences rigoureuses des revêtements ultra, le PHOTON RT 0420 Ultra dispose d'une gamme de longueurs d'onde de 340 nm à 2000 nm et est adapté à une gamme diversifiée de revêtements pour des applications avancées, notamment les LIDAR, la microscopie à fluorescence, la sécurité laser, les télécommunications, l'exploration spatiale, la défense et la sécurité. 

PHOTON RT 7514 LWIR

La mesure précise et fiable des spectres infrarouges des revêtements optiques constitue aujourd'hui l'un des défis les plus critiques. Les fabricants d'optique du monde entier exigent des revêtements IR de plus en plus sophistiqués pour leurs optiques planes, dans le but d'améliorer la détection et l'identification d'objets à longue distance. Souvent, les capacités de production de ces revêtements optiques dépassent les capacités métrologiques existantes pour en certifier la qualité.

Le spectrophotomètre PHOTON RT 7514 est un instrument conçu spécifiquement pour répondre efficacement à ces exigences. Il mesure la transmission et la réflexion des revêtements dans la gamme spectrale LWIR. Le PHOTON RT 7514 se distingue par sa capacité à effectuer des mesures automatiques sous différents angles d'incidence (jusqu'à 60°) avec de la lumière polarisée. Pour faciliter ces tests exigeants, une fonction intégrée compense avec précision le déplacement du faisceau aux angles élevés, garantissant ainsi des mesures de polarisation S et P en quelques minutes seulement. Il supporte une épaisseur d'échantillon maximale record de 40 mm.

LINZA 150

Le spectrophotomètre LINZA 150 est conçu pour la mesure de la transmittance et de la réflectance à large bande des lentilles et des ensembles multi-lentilles (objectifs), ajoutant une toute nouvelle dimension à vos capacités de métrologie optique.

En effet, les lentilles se déclinent en une grande variété de tailles et de formes, ce qui rend leur mesure extrêmement complexe. Compte tenu des difficultés inhérentes à la mesure de la transmittance ou de la réflectance des lentilles, les ingénieurs opticiens doivent souvent combiner les données de plusieurs échantillons témoins afin d'obtenir des informations essentielles sur les performances optiques d'une lentille. Cependant, de par la nature même de toute technologie de dépôt, le revêtement des lentilles diffère de celui de l'échantillon témoin. Un obstacle encore plus important réside dans la nécessité de mesurer les performances hors axe de la lentille optique.

Avec LINZA 150, vous obtenez des données de transmission sur l'axe et des données de réflexion en tout point de la surface de la lentille, et ce, de manière totalement automatisée. Ainsi, seules des lentilles parfaites, dotées de revêtements impeccables, sont livrées aux clients et approuvées pour les assemblages optiques. Ces précieuses données permettent également à nos clients d'analyser et d'améliorer leurs technologies de dépôt.

Le spectrophotomètre LINZA 150 est également un excellent instrument pour votre laboratoire d'assurance qualité/contrôle qualité, vous permettant de vérifier que les lentilles de votre fournisseur répondent à vos spécifications. Cet instrument est parfaitement adapté aussi bien aux mesures de routine des lentilles qu'à l'amélioration poussée des technologies de revêtement.

LINZA 2752 MWIR

La plupart des composants optiques sont des lentilles. Ces lentilles se déclinent en une grande variété de formes et de tailles : convexes, concaves, cylindriques et asphériques. Leur revêtement est réalisé dans des chambres à vide, une fois les lentilles placées sur le dispositif de fixation ou le porte-lentilles à rotation planétaire.

Du fait de la nature du procédé de dépôt sous vide, il est impossible de mesurer en temps réel la transmittance ou la réflectance réelle des lentilles. C'est pourquoi des échantillons témoins plans sont systématiquement utilisés pour le contrôle du procédé. Cependant, le revêtement des lentilles diffère souvent de celui des échantillons témoins. Pour de nombreuses applications, il est essentiel de connaître la transmission de la lentille réelle. Les performances optiques réelles ne peuvent souvent être analysées qu'une fois toutes les lentilles installées dans le système optique. Identifier la lentille défectueuse peut s'avérer long et fastidieux. Ces coûts augmentent encore pour les systèmes et objectifs comportant plusieurs lentilles. Il va sans dire que les performances spectrales des objectifs complets doivent également être évaluées.

Le spectrophotomètre LINZA 2752 répond efficacement à ces défis lors des mesures de transmission axiale des lentilles et objectifs MWIR. Grâce à son grand compartiment et à ses détecteurs coulissants, il permet de mesurer avec succès des lentilles individuelles d'un diamètre de 10 mm à 150 mm, ainsi que des ensembles de lentilles complets d'une longueur totale allant jusqu'à 500 mm.

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