EssentOptics 分光光度計
分光光度計是用於測量樣品在不同波長下的光透射/反射的儀器。 它常用於化學、物理、生物化學和分子生物學等領域。
分光光度計的工作原理是讓一束光穿過樣品，並測量樣品在不同波長下吸收或透射/反射的光量。 分光光度計的基本組件包括光源、單色器或波長選擇器、樣品架和檢測器。
EssentOptics 為鍍膜機開發高精度分光光度計，專注於光學測量需求。 Wavelength Opto-Electronic 是 EssentOptics 品牌分光光度計的合作夥伴 新加坡.
光子RT紫外-可見-中波紅外線
| 型號 | 0217 | 0226 | 0252 | |||
| 光學配置 | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 光度函數 | %T，%R | |||||
| 有效波長范圍，nm | 185 – 1700 | 185 – 2600 | 185 – 5200 | |||
| 內置偏振器，nm | 220 – 1700 | 220 – 2600 | 220 – 5200 | |||
| 單色器的光學方案 | 車爾尼-特納 | |||||
| 光學 | 鏡子，MgF2 | |||||
| 參考通道 | 可以 | |||||
| 波長採樣間距，nm | 0,25 – 100 | |||||
| 測量樣本上的斑點尺寸，毫米 | 6 x 2 → 2 x 2 | |||||
| 樣品台轉動俯仰角 | 0,01度 | |||||
| 光電探測器的轉動俯仰角 | 0,01度 | |||||
| 光束位移補償 | -60,0 毫米 … 0 … +60,0 毫米 （實際值取決於探測器位置） | |||||
| 可變角度測量 | 1. 透射率範圍為 0 – 75 度（使用 7085 樣品台時可達 85 度） | |||||
| 波長子範圍，nm | 極限光譜分辨率，nm（非偏振光） | 波長精度，nm | 波長重複精度，nm | |||
| 185 – 990 奈米 | 0,6 | + / - 0,5 | + / - 0,25 | |||
| 990 – 1700 / 2450 / 2600 奈米 | 1,2 | + / - 1,0 | + / - 0,5 | |||
| 2450 – 5200納米 | 2,4 | + / - 2,0 | + / - 1,0 | |||
| 雜散光水平，% 在 532 nm | ˂ 0,1 | |||||
| 光束髮散角 | +/-1 度 | |||||
光度精度（可見光-近紅外線範圍） 使用可溯源至NIST的光譜儀校準的標準參考物質 | （可見光-近紅外線） +/-0,0045 絕對值 (1 絕對值)；+/-0,0025 絕對值 (0,33 絕對值)；+/-0,0058 絕對值 (1.5 絕對值) | |||||
光度重複精度（可見光-近紅外線範圍） 使用 0,1 秒累積確定，10 次後續測量的最大偏差 | （可見光-近紅外線） 0,0004 Abs (1 Abs)；0,0001 Abs (0,33 Abs)；0,005 Abs (1.5 Abs) | |||||
| 基線穩定性，%/小時（VIS 範圍） | < 0,1（一小時預熱時間） | |||||
| 使用內置偏振器進行無人值守的偏振測量 | S、P、(S + P) / 2 | |||||
| 零階/綠光 | 內置，自動 | |||||
| 光源，預裝 | 1. 氘燈：1個 | |||||
| 光源，備用 | 鹵素燈：2 個（隨附）。 其他備用光源可另行訂購。 | |||||
光子 RT 0420
| 光學配置 | |
| 單色器的光學方案 | 雙加性切爾尼-特納 |
| 光學 | 鏡面，受保護的銀 |
| 參考通道 | 可以 |
| 波長採樣間距，nm | 0,01年到100年 |
| 測量樣本上的斑點尺寸，毫米 | 4 3點¯x |
| 光度函數 | %T，OD |
| 有效波長范圍，nm | 340 – 2000 |
極限光譜分辨率，nm 400-990 nm 990-2000 nm |
0,06 0,13 |
波長精度，nm 400-990 nm 990-2000 nm |
+ / - 0,02 + / - 0,04 |
波長重複精度，nm 400-990 nm 990-2000 nm |
+ / - 0,01 + / - 0,02 |
極限光密度，-log10(T) 340-420 nm 420-925 nm 925-2000 nm |
6 8 7 |
| 雜散光水平，% 在 532 nm | < 0,000001 (1x10E-6) |
| 光束發散角，度 | + / - 0,2 |
| 光度精度 | （可見光-近紅外線） |
| 光度重複精度 | （可見光-近紅外線） 0,0004 Abs (1 Abs)；0,0001 Abs (0,33 Abs)；0,005 Abs (1.5 Abs) |
| 基線穩定性，%/小時 | < 0,2（一小時預熱時間） |
| 光源 | 高能量等離子體源，HgAr波長校準燈。 所有資源均已內建並預先配置 |
光子 RT 7514 長波紅外線
| 光學配置 | |
| 光度函數 | %T，%R |
| 有效波長範圍，µm | 7,5 – 14,0 |
| 內建偏光片，微米 | 7,5 – 14,0 |
| 單色器的光學方案 | 車爾尼-特納 |
| 光學 | 鏡面：金，透鏡：硒化鋅+增透膜 |
| 傳輸測量 | 可變角度測量：入射角 0 – 60 度 |
| 反射率測量 | 可互換的樣品台，入射角固定：10°、30°、45°和60° 參考樣品：金鏡 |
| 樣品台的旋轉俯仰角，度 | 0,01 |
| 梁位移補償，毫米 | 40 |
| 利用內置偏振片進行無人值守偏振測量 | S、P、(S + P) / 2 |
| 波長採樣間距，nm | 5 – 100 |
| 測量樣品上的光斑尺寸（非偏振光），單位：毫米 | 2,0 x 6,0（寬 x 高） |
| 極限光譜解析度（非偏振光），nm | 15 |
| 波長精度，nm | + / – 4,0 |
| 波長重複精度，nm | + / – 2,0 |
| 光度精度（鍺樣品厚度 3 mm，透射率 47%，λ）0 = 10,6 µm，AOI = 40) | +/- 0,2% |
| 光度重複精度 | +/- 0,1% |
| 基線穩定性（7,8 µm – 13,0 µm），%/小時* | +/- 0,3% |
| 雜散光水平（7,5 µm – 12,0 µm），% | <0,2 |
| 光源 | 紅外線燈 HgAr波長校準驗證燈 |
林扎150
| 型號 | 0217 | 0417 |
參數 | 商品描述 | |
|---|---|---|
| 光學配置 | ||
| 光度函數 | %T，%R | |
| 有效波長範圍，nm | 185 – 1700 | 380 – 1700 |
| 單色器的光學方案 | 車爾尼-特納 | |
| 光學 | 鏡面，Al + SiO2，Al + MgF2 | |
| 參考通道 | 可以 | |
| 波長掃描速度，nm/分鐘 | 3000（5波長採樣間隔） | |
| 被測樣品上的光斑尺寸，mm | 透射率：6,0 x 5,5 反射率：1,0 x 1,0 | |
| 波長採樣間距，nm | 0,25 – 100 | |
極限光譜分辨率，nm 185 (380) – 990 納米 990 – 1700納米 |
2,00 4,00 |
2,00 4,00 |
| 波長精度，nm | 0,5 | |
| 波長重複精度，nm | + / – 0,25 | |
| 散射光水平，% max (@ 532 nm) | <0,1 | |
| 光度精度 | （可見光-近紅外線） +/-0,0045 絕對值 (1 絕對值)；+/-0,0025 絕對值 (0,33 絕對值)；+/-0,0058 絕對值 (1.5 絕對值) | |
| 光度重複精度 | （可見光-近紅外線） 0,0004 Abs（1 Abs）；0,0001 Abs（0,33 Abs）；0,005 Abs（1.5 Abs） | |
| 基線穩定（紫外-可見光），%/小時 | <0,1 | |
| 光源 | 氘燈、鹵素燈、汞氬波長校準驗證燈 | 鹵素燈，HgAr波長校準驗證燈 |
LINZA 2752 中波紅外線
| 光學配置 | |
| 光度函數 | %T |
| 有效波長範圍，nm | 2700 – 5200 |
| 單色器的光學方案 | 車爾尼-特納 |
| 光學 | 鏡面：Al + MgF2鏡片：CaF2 |
| 參考通道 | 可以 |
| 波長採樣間距，nm | 0,5 – 100 |
| 波長掃描速度，nm/分鐘 | 3000（5波長採樣間隔） |
| 被測樣品上的光斑尺寸，mm | 從 4.0 x 3.0 到 8.0 x 6.0 |
| 典型光譜分辨率，nm* | 8,0 |
| 波長精度，nm | 4,0 |
| 波長重複精度，nm | + / – 2,0 |
| 散射光強度，最大值百分比 | 0,2 |
| 光度精度** | NRC NG11 SRM； +/-0.010Abs (0,49Abs) +/-0.011Abs (0,82Abs) +/-0.013Abs (1,00Abs) +/-0.015Abs (1,26Abs) |
| 光度重複精度** | NRC NG11 SRM： +/-0.0016Abs (0,49Abs) +/-0.0036Abs (0,82Abs) +/-0.008Abs (1,00Abs) +/-0.013Abs (1,26Abs) |
| 基線穩定性，%/小時** | + / – 0,3 |
| 光源 | 紅外線燈 |
EssentOptics 分光光度計信息
光子RT
PHOTON RT 是全球唯一一款專為真正的光學鍍膜計量而設計的光譜儀，能夠在類似現場操作條件下對鍍膜進行有意義且可追溯的表徵。它獨特地結合了寬頻偏振控制和變角度測量，覆蓋無與倫比的紫外線-中波紅外線波段（220-5200 nm），從而能夠深入了解多層薄膜光學元件的實際性能。
光子 RT 420
PHOTON RT 0420 Ultra 擁有前所未有的 0.06 nm 光譜分辨率，為尖端濾光片的性能鑑定提供了無與倫比的靈活性。其先進的功能支援低至 OD8 的寬頻測量，並能夠表徵低至 0.02% 的斜率陡度。
PHOTON RT 0420 Ultra 專為滿足超塗層的嚴格要求而設計，其波長範圍為 340nm 至 2000nm，適用於各種先進應用的塗層，包括雷射雷達、螢光顯微鏡、雷射安全、電信、太空探索、國防和安全。
光子 RT 7514 長波紅外線
對光學鍍膜進行精確可靠的紅外光譜測量是當今最關鍵的挑戰之一。全球光學製造商正為其平面光學元件指定越來越複雜的紅外線鍍膜，旨在提高遠距離目標探測和識別能力。然而，這些光學鍍膜的生產能力往往超過了現有的品質認證計量能力。
PHOTON RT 7514 分光光度計是一款專為有效應對這些挑戰而設計的專用儀器。它測量長波紅外線 (LWIR) 光譜範圍內塗層的透射率和反射率。 PHOTON RT 7514 的一項卓越特性是能夠使用偏振光在可變入射角（高達 60 度）下進行自動測量。為了支援這些高要求的測試，其內建功能可精確補償高角度入射時的光束位移，確保在短短幾分鐘內即可完成 S 偏振和 P 偏振測量。該儀器支援的最大樣品厚度為 40 毫米，創下紀錄。
林扎150
LINZA 150 分光光度計專為測量透鏡和多透鏡組件（物鏡）的寬頻透射率和反射率而設計，為您的光學計量能力增添了全新的維度。
事實上，透鏡的尺寸和形狀千差萬別，這使得測量它們變得極其困難。鑑於測量透鏡透射率或反射率的固有挑戰，光學工程師通常需要結合多個參考樣品的測量數據，以提取透鏡光學性能的基本資訊。然而，由於任何沉積技術的特性，透鏡上的鍍膜與參考樣品上的鍍膜並不相同。而測量光學透鏡的離軸性能則面臨更難以克服的挑戰。
透過 LINZA 150，您可以完全自動地取得透鏡表面任意點的軸向透射資料和反射資料。這確保了交付給客戶並獲得透鏡組件認證的透鏡均具備完美的鍍膜。這些寶貴的數據也有助於我們的客戶進行反向分析，從而改進他們的鍍膜技術。
LINZA 150 分光光度計也是您品質保證/品質控制實驗室的理想儀器，可確保供應商提供的鏡片符合您的規格要求。本儀器完美適用於常規鏡片測量以及鏡片鍍膜技術的精密改進。
LINZA 2752 中波紅外線
大部分光學元件都是透鏡。透鏡的形狀和尺寸種類繁多，包括凸透鏡、凹透鏡、柱面透鏡和非球面透鏡。透鏡在安裝到夾具或行星旋轉支架上之前，會在真空腔中進行鍍膜。
由於真空沉積製程的特性，無法即時測量透鏡的實際透射率或反射率。因此，製程監控通常需要使用平面參考樣品。然而，透鏡上的鍍膜往往與參考樣品上的鍍膜有所不同。對於許多應用而言，了解實際透鏡的透射率至關重要。通常只有在所有透鏡都安裝到光學系統後，才能分析其實際光學性能。識別「故障」透鏡可能需要耗費大量時間和精力。對於包含多個透鏡的系統和物鏡，這些成本會更高。毋庸置疑，完整的透鏡物鏡的光譜性能也需要評估！
LINZA 2752 分光光度計能夠有效應對中波紅外線透鏡和物鏡軸向透射率測量的這些挑戰。憑藉其大容量樣品室和滑動式探測器，該儀器可以成功測量直徑為 10 mm 至 150 mm 的單一透鏡，以及端到端長度達 500 mm 的完整透鏡組件。
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