自动光学检测
(AOI) 机器

设计用于包装在带有印刷网格的普通凝胶盒中的平面微光学元件的原位表面检测(市场上很容易买到)。 根据美国陆军标准 MIL-PRF-13830B 和等效的能见度规范标准进行校准以检查光学表面上的划痕和凹陷。

我们的 OptiNspec 型号系列:
AMF:自动平面微光学检测机
AOF:自动平面光学检测机
MOF:手动平面光学检测机

我们也在寻找国际合作伙伴,在您所在的地区分销这种尖端技术。

产品编号检查类型最大托盘尺寸 (mm)最大样品直径 (mm)成像分辨率 (µm/px)检查时间 (sec/pc)适用光学
MOF100手动-2614.0< 3(25mm直径样品)扁平、轻度弯曲的光学元件(常规)
AOF101批量300 x 3002613.8< 3 (25mm 直径样品)扁平、轻度弯曲的光学元件(常规)
AMF101批量300 x 30052.4< 3(4.5 毫米直径样品)扁平、轻度弯曲的光学元件(微型)
AMF102批量76.2 x 50.852.4< 5(1.5mm x 1.5mm 样品)扁平、轻度弯曲的光学元件(微型)
AMF103批量150 x 150126.0< 6(3.6mm x 3.6mm 样品)扁平、轻度弯曲的光学元件(小)
AMF104批量76.2 x 50.8122.5< 6(1.5mm x 1.5mm 样品)扁平、轻度弯曲的光学元件(小)

SPIE光子学西部, 31 月 2 日至 2452 月 XNUMX 日 | 摊位:XNUMX
SPIE防御+商业感知
, 2 月 4 - 1320 日 | 展位:XNUMX
激光光子世界, 27 月 30-1 日 | 展馆:B422展位:XNUMX
印度光子学激光世界, 13 月 15-3 日 | 展厅:15 展位:LFXNUMX
迪赛, 12 月 15-7 日 | 展位:制造吊舱 XNUMX
展览
  • SPIE 光子学西部 2023, 31 月 2 日至 2452 月 XNUMX 日 | 摊位:XNUMX
  • SPIE国防+商业感应2023, 2 月 4 - 1320 日 | 展位XNUMX
  • 激光光子世界, 27 月 30-1 日 | B422馆XNUMX号展位