EssentOptics 分光光度计

EssentOptics 分光光度计

EssentOptics 为镀膜机开发高精度分光光度计,专注于光学测量需求。 Wavelength Opto-Electronic 是 EssentOptics 品牌产品在新加坡的授权经销商.

  • 世界上第一台专为光学镀膜机设计的分光光度计
  • 世界上唯一具有 UV-MWIR (220-5200 nm) 偏振测量功能的仪器,这是一个独特的机会,可以更深入地了解光学涂层的实际性能
 PHOTON RT 分光光度计。 产品配置
 185到1700185到3500185到5200380到1700380到3500380到5200
产品规格
单色器的光学方案切尔尼-特纳
光学镜子,MgF2
参考通道
波长采样间距,nm 0,1到100
波长扫描速度,nm/min3 000(5 nm 波长采样间距)
被测样品上的光斑尺寸,nm用户选择:6 х 2 --> 2 x 2
样品台转动俯仰角0,01度
光电探测器的转动俯仰角0,01度
光束位移补偿-60,0 mm ... 0 ... +60,0 mm(实际值取决于检测器位置)
可变角度测量

1. 0 - 75 度透射率(85 - 70 样品台可达 85 度)

2. 8 - 75 度绝对反射率(高达 85 度,70 - 85 样品台)

3. 探测器旋转范围:300° ... 180° ... 16°

4、样品台旋转范围:-85° ... 0° ... +85°

波长子范围,nm极限光谱分辨率,nm(非偏振光)波长精度,nm波长重复精度,nm
185 - 350 纳米0,3+/- 0,25+/- 0,125
350 (380) - 990 纳米0,6+/- 0,5+/- 0,25
990 - 1650 纳米1,2+/- 1,0+/- 0,5
1650 - 2450 纳米1,2+/- 1,0+/- 0,5
2450 - 5200 纳米2,4+/- 2,0+/- 2,0
杂散光水平,% 在 532 nm˂0,1
光束发散角+/-1 度
光度精度

(可见光)

NIST SRM 930e:+/-0,003 Abs (1Abs)

NIST SRM 1930:+/-0,003 Abs (0.33Abs); +/-0,006 绝对值 (2Abs)

(中波红外)

NRC NG11 SRM:+/-0,0013 Abs (0,13 Abs); +/-0,0053 绝对值(0,49 绝对值); +/-0,0011 绝对值(0,82 绝对值); +/-0,005 绝对值(1,0 绝对值)

光度重复精度(可见光范围)

(可见光)

NIST SRM 930e:0,0004 Abs(1 Abs)

NIST SRM 1930:0,0001 绝对值 (0,33 绝对值); 0,005 绝对值 (2 绝对值)

(中波红外)

NRC NG11 SRM:+/-0,0003 Abs (0,13 Abs); +/-0,0008 绝对值(0,49 绝对值); +/-0,0022 绝对值(0,82 绝对值); +/-0,0034 绝对值(1,0 绝对值)

使用 0,1 秒累积确定,10 次后续测量的最大偏差

基线稳定性,%/小时(VIS 范围)˂0,1(一小时预热时间)
使用内置偏振器进行无人值守的偏振测量

一种。 S, P, (S + P)/2, 随机

b. 用户定义入射光束的 S:P 比(20/80、30/70 等)

内置偏光片,nm220到1700220到3500220到5200380到1700380到3500380到5200
零阶/绿光内置,自动
光源,预装

1.卤素灯:1个

2. HgAr波长校准验证灯:1个

 氘灯:1个氘灯:1个氘灯:1个   
   红外源:1个  红外源:1个
光源,备用卤素灯:2 ea(包括 与装运)。 可订购其他备用光源
样品室
用于样品台的燕尾槽底板专为安装机动和非机动样品台而设计。 集成控制器确保即时检测电动载物台
平面样品台

用于测量尺寸大于 12,0 x 10,0 mm 的平面样品的透射和反射

独立定位

样品台和光电探测器单元的独立计算机控制定位

同步定位样品台和光电探测器单元的同步计算机控制定位取决于所选的光度功能 
样本大小

分钟12,0 x 10,0 mm - 用于 0 - 10 度入射角的测量

分钟12,0 x 25,0 mm - 用于 10 - 75 度入射角的测量

最大限度。 样本量:

  • 高达 152,4 mm (6"),带封闭的标准样品台盖
  • 高达 140,0 mm (5 1/2") Z 样品台盖关闭
PBS 立方体样品台50,0 x 50,0 x 50,0 mm 样品台,带两个额外的立方体支架 1" x 1" x 1" 和 1/2" x 1/2" x 1/2"
可选电动和非电动样品台

1. 多位置载物台,电动,自动检测

1.1 1" / 8 位置圆盘,用于多位置舞台底座

1.2 30,0 mm / 8 位置圆盘,用于多位置平台底座

2. XY 载物台。 +/-12,5 毫米行程。 样品尺寸 40,0 x 44,0 毫米

3. Z 阶段

4. 70 - 85 度 AOI 样品台,非电动(Photon Rt 1)

5. 70 - 85 度 AOI 样品台,非电动(Photon Rt 2)

用户界面、尺寸和重量
接口USB 2.0,基于 Windows,英语
文件保存格式res (txt)、xls、pdf、csv
功耗,瓦特110
电源输入110 - 220 伏(+/-10%),50 - 60 赫兹
环境温度条件+19 ... +26 摄氏度
宽度 х 深度 х 高度,毫米(英寸)422,0 х 656,0 х 285,0 (16 3/5" х 25 4/5" х 11 4/5"),包括把手和支脚
净重,公斤(磅)50(110)

  • 单个凸/凹透镜的快速轴上透射率测量 
  • 镜头组件(物镜)的快速轴上透射率测量,最大物镜长度为 240,0 mm
  • 对单个镜头进行无人值守的轴上和离轴反射率测量,提供几乎来自镜头表面任何区域(凸面和凹面)的测量数据。 非常适合微调用于在镜片上生产涂层的沉积技术

参数

商品描述

样品室 *

镜片直径,毫米

透光率:10,0 - 150,0 毫米

反射率:10,0 - 90,0 毫米

反射率测量

镜头半径:-15,0 mm … ∞ / +15,0 mm … ∞

透过率测量

焦距:-20,0 毫米 ... ∞ ... +20,0 毫米

镜头组件尺寸,毫米 **

Ø150 x 240(长)

用于确定透镜表面测量点的采样间距(离轴反射测量),mm

0,01

最大镜头倾角

(离轴反射测量), deg

55

入射角

(同轴/离轴反射测量),度

12

光学配置

有效波长范围,nm

380 - 1700, 185 - 1700

单色器的光学方案

切尔尼-特纳

光学

镜面,Al + SiO2,Al + MgF2

参考通道

波长采样间距,nm

0,5到100

波长扫描速度,nm/min

3 000(5 波长采样间距)

被测样品上的光斑尺寸,mm

透射率:4,0 х 2,5 毫米

反射率:1,0 х 1,0 毫米

光度函数

%T, %R

光谱分辨率,纳米 ***

185 (380) – 990 纳米

990 - 1700 nm

2,0

4,0

波长精度,nm

0,24

波长重复精度,nm

+ / - 0,12

散射光水平,% max (@ 532 nm)

<0,1

光度精度

NIST SRM 930:+/-0.003 绝对值(1 绝对值)

NIST SRM 1930:+/-0.003 Abs (0.33 Abs); +/-0.006 绝对值 (2 绝对值)

光度重复精度

NIST SRM 930:0.0006 绝对值(1 绝对值)

NIST SRM 1930:0.0002 绝对值 (0.33 绝对值); 0.005 绝对值 (2 绝对值)

使用 0,1 秒累积确定,10 次后续测量的最大偏差

基线稳定性 (UV-VIS),%/小时 ****

<0,1

光源

卤素灯、氘灯、

HgAr 波长校准验证灯

接口、尺寸和重量

接口

USB 2.0

功耗,瓦特

110

电源输入

110-220 VAC,50-60 Hz

宽 x 深 x 高,毫米

680,0 х 440,0 х 360,0(26 3/4 “ x 17 1/3 “ x 14 1/5”)

净重/公斤

50

* 为每个单独的镜头几何参数提供了最大值。 仪器的最终测量能力取决于特定镜头的实际尺寸。

** 可使用 LINZA 150 分光光度计测量的透镜组件的最大尺寸(直径和长度)

*** 提供最佳信噪比

**** 经过 1 小时的预热时间

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SPIE光子学西部, 31 月 2 日至 2452 月 XNUMX 日 | 摊位:XNUMX
SPIE防御+商业感知
, 2 月 4 - 1320 日 | 展位:XNUMX
激光光子世界, 27 月 30-1 日 | 展馆:B422展位:XNUMX
印度光子学激光世界, 13 月 15-3 日 | 展厅:15 展位:LFXNUMX
迪赛, 12 月 15-7 日 | 展位:制造吊舱 XNUMX
展览
  • SPIE 光子学西部 2023, 31 月 2 日至 2452 月 XNUMX 日 | 摊位:XNUMX
  • SPIE国防+商业感应2023, 2 月 4 - 1320 日 | 展位XNUMX
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