Tự động-Quang học-Kiểm tra-AOI-Máy-OptiNspec-AMF103-Quang tử Singapore Quang học Singapore

Kiểm tra quang học tự động Máy AOI Kết quả bài viết

Kiểm tra quang học tự động Máy AOI Điều khoản Ống kính Micro

Kiểm tra quang học tự động
(AOI) Máy

Được thiết kế để kiểm tra bề mặt tại chỗ của vi quang học phẳng được đóng gói trong hộp gel thông thường có lưới in (sẵn có trên thị trường). Được hiệu chỉnh để kiểm tra vết xước và vết lõm trên bề mặt quang học phù hợp với tiêu chuẩn Quân đội Hoa Kỳ MIL-PRF-13830B và tiêu chuẩn thông số kỹ thuật hiển thị tương đương.

Một loạt các mô hình OptiNspec của chúng tôi:
AMF: Máy kiểm tra vi quang học phẳng tự động
AOF: Máy kiểm tra quang học phẳng tự động
MOF: Máy kiểm tra quang học phẳng bằng tay

Chúng tôi cũng đang tìm kiếm các đối tác quốc tế để phân phối công nghệ tiên tiến này trong khu vực của bạn.

Sản phẩm
Video
Yêu cầu báo giá

phần số	Loại kiểm tra	Kích thước khay tối đa (mm)	Đường kính mẫu tối đa (mm)	Độ phân giải hình ảnh (µm / px)	Thời gian kiểm tra (giây / pc)	Quang học ứng dụng
MOF100	Hướng dẫn sử dụng	-	26	14.0	<3 (mẫu đường kính 25mm)	Quang học phẳng, cong nhẹ (thông thường)
AOF101	Hàng loạt	300 x 300	26	13.8	<3 (mẫu đường kính 25mm)	Quang học phẳng, cong nhẹ (thông thường)
AMF101	Hàng loạt	300 x 300	5	2.4	<3 (mẫu đường kính 4.5 mm)	Quang học phẳng, cong nhẹ (Micro)
AMF102	Hàng loạt	76.2 x 50.8	5	2.4	<5 (mẫu 1.5mm x 1.5mm)	Quang học phẳng, cong nhẹ (Micro)
AMF103	Hàng loạt	150 x 150	12	6.0	<6 (mẫu 3.6mm x 3.6mm)	Quang học phẳng, cong nhẹ (nhỏ)
AMF104	Hàng loạt	76.2 x 50.8	12	2.5	<6 (mẫu 1.5mm x 1.5mm)	Quang học phẳng, cong nhẹ (nhỏ)

Kiểm tra quang học tự động(AOI) Máy

Kiểm tra quang học tự động
(AOI) Máy