EssentOptics spektrofotometrlari
Spektrofotometr - bu namunalar uchun turli to'lqin uzunliklarida yorug'lik o'tkazuvchanligini / aksini o'lchash uchun ishlatiladigan asbob. U odatda kimyo, fizika, biokimyo va molekulyar biologiya sohalarida qo'llaniladi.
Spektrofotometr yorug'lik nurini namunadan o'tkazish va turli to'lqin uzunliklarida namuna tomonidan so'rilgan yoki uzatilgan / aks ettirilgan yorug'lik miqdorini o'lchash orqali ishlaydi. Spektrofotometrning asosiy komponentlariga yorug'lik manbai, monoxromator yoki to'lqin uzunligi selektori, namuna ushlagichi va detektor kiradi.
EssentOptics faqat optik o'lchash ehtiyojlariga qaratilgan qoplamalar uchun yuqori aniqlikdagi spektrofotometrlarni ishlab chiqadi. Wavelength Opto-Electronic uchun EssentOptics brendining spektrofotometrlari hamkori hisoblanadi Singapur.
PHOTON RT UV-VIS-MWIR
| mODEL | 0217 | 0226 | 0252 | |||
| OPTIK KONFIGURASYON | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Fotometrik funktsiyalar | %T, %R | |||||
| To'lqin uzunligining samarali diapazoni, nm | 185 - 1700 | 185 - 2600 | 185 - 5200 | |||
| O'rnatilgan polyarizator, nm | 220 - 1700 | 220 - 2600 | 220 - 5200 | |||
| Monoxromatorning optik sxemasi | Czerni-Tyorner | |||||
| Optiklar | Oyna, MgF2 | |||||
| Malumot kanali | ha | |||||
| To'lqin uzunligi bo'yicha namuna olish balandligi, nm | 0,25 - 100 | |||||
| O'lchangan namunadagi dog' o'lchami, mm | 6 x 2 → 2 x 2 | |||||
| Namuna bosqichining burilish burchagi | 0,01 deg | |||||
| Fotodetektorlarning burilish burchagi | 0,01 deg | |||||
| Nurning siljishi kompensatsiyasi | -60,0 mm … 0 … +60,0 mm (haqiqiy qiymat detektorning holatiga bog'liq) | |||||
| O'zgaruvchan burchak o'lchovlari | 1. O'tkazuvchanlik uchun 0 – 75 daraja (7085 namunaviy bosqich bilan 85 darajagacha) | |||||
| To'lqin uzunligi pastki diapazonlari, nm | Yakuniy spektral ruxsat, nm (polarizatsiyalanmagan yorug'lik) | To'lqin uzunligining aniqligi, nm | To'lqin uzunligini takrorlash aniqligi, nm | |||
| 185 – 990 nm | 0,6 | +/- 0,5 | +/- 0,25 | |||
| 990 – 1700 / 2450 / 2600 nm | 1,2 | +/- 1,0 | +/- 0,5 | |||
| 2450-5200 nm | 2,4 | +/- 2,0 | +/- 1,0 | |||
| Adashgan yorug'lik darajasi, % 532 nm | ˂ 0,1 | |||||
| Nurning ajralish burchagi | +/-1 daraja | |||||
Fotometrik aniqlik (VIS-NIR diapazoni) NIST tomonidan kuzatiladigan spektrofotometrda kalibrlangan standart ma'lumotnoma materiallari | (VIS-NIR) +/-0,0045 Qorin mushaklari (1 Qorin mushaklari); +/-0,0025 Qorin mushaklari (0,33 Qorin mushaklari); +/-0,0058 Qorin mushaklari (1.5 Qorin mushaklari) | |||||
Fotometrik takrorlash aniqligi (VIS-NIR diapazoni) 0,1 soniya to'plash, 10 keyingi o'lchov uchun maksimal og'ish yordamida aniqlanadi | (VIS-NIR) 0,0004 Qorin mushaklari (1 Qorin mushaklari); 0,0001 Qorin mushaklari (0,33 Qorin mushaklari); 0,005 Qorin mushaklari (1.5 Qorin mushaklari) | |||||
| Baza barqarorligi, %/soat (VIS diapazoni) | ˂ 0,1 (bir soatlik qizdirish vaqti) | |||||
| O'rnatilgan polarizatorlar bilan qarovsiz polarizatsiya o'lchovlari | S, P, (S + P) / 2 | |||||
| Nolinchi tartib / Yashil nur | O'rnatilgan, avtomatik | |||||
| Oldindan o'rnatilgan yorug'lik manbalari | 1. Deuteriy lampasi: 1 dona | |||||
| Yorug'lik manbalari, zaxira | Galogen lampa: 2 dona (jo'natma bilan birga). Boshqa zaxira yorug'lik manbalariga qo'shimcha ravishda buyurtma berish mumkin | |||||
PHOTON RT 0420
| OPTIK KONFIGURASYON | |
| Monoxromatorning optik sxemasi | Ikki qo'shimchali Czerny-Turner |
| Optiklar | Ko'zgu, himoyalangan Ag |
| Malumot kanali | ha |
| To'lqin uzunligi bo'yicha namuna olish balandligi, nm | 0,01 uchun 100 |
| O'lchangan namunadagi dog' o'lchami, mm | 4 x 3 |
| Fotometrik funktsiyalar | %T, OD |
| To'lqin uzunligining samarali diapazoni, nm | 340 - 2000 |
Spektral aniqlikning maksimal qiymati, nm 400-990 nm 990-2000 nm |
0,06 0,13 |
To'lqin uzunligining aniqligi, nm 400-990 nm 990-2000 nm |
+/- 0,02 +/- 0,04 |
To'lqin uzunligini takrorlash aniqligi, nm 400-990 nm 990-2000 nm |
+/- 0,01 +/- 0,02 |
Optik zichlikning maksimal qiymati, -log10(T) 340-420 nm 420-925 nm 925-2000 nm |
6 8 7 |
| Adashgan yorug'lik darajasi, % 532 nm | < 0,000001 (1x10E-6) |
| Nur divergensiyasi burchagi, gradus | +/- 0,2 |
| Fotometrik aniqlik | (VIS-NIR) |
| Fotometrik takrorlash aniqligi | (VIS-NIR) 0,0004 Qorin mushaklari (1 Qorin mushaklari); 0,0001 Qorin mushaklari (0,33 Qorin mushaklari); 0,005 Qorin mushaklari (1.5 Qorin mushaklari) |
| Asosiy barqarorlik, %/soat | < 0,2 (bir soatlik isitish vaqti) |
| Nur manbalari | Yuqori energiyali plazma manbai, HgAr to'lqin uzunligi kalibrlash lampasi. Barcha manbalar o'rnatilgan va oldindan sozlangan |
PHOTON RT 7514 LWIR
| OPTIK KONFIGURASYON | |
| Fotometrik funktsiyalar | %T, %R |
| Samarali to'lqin uzunligi diapazoni, µm | 7,5 - 14,0 |
| O'rnatilgan polyarizatorlar, µm | 7,5 - 14,0 |
| Monoxromatorning optik sxemasi | Czerni-Tyorner |
| Optiklar | Ko'zgu: Au, Linzalar: ZnSe + AR |
| Uzatishni o'lchash | O'zgaruvchan burchak o'lchovlari: 0 – 60 gradus tushish burchaklari |
| Ko'zgu o'lchovi | Belgilangan tushish burchaklari bilan almashtiriladigan namunaviy bosqichlar: 10, 30, 45 va 60 gradus Malumot namunasi: oltin oyna |
| Namuna bosqichining burilish burchagi, gradus | 0,01 |
| Nur siljishi kompensatsiyasi, mm | 40 |
| O'rnatilgan polyarizatorlar yordamida qarovsiz polyarizatsiya o'lchovlari | S, P, (S + P) / 2 |
| To'lqin uzunligi bo'yicha namuna olish balandligi, nm | 5 - 100 |
| O'lchangan namunadagi dog' o'lchami (polyarizatsiyalanmagan yorug'lik), mm | 2,0 x 6,0 (K x Y) |
| Spektral aniqlikning maksimal darajasi (polyarizatsiyalanmagan yorug'lik), nm | 15 |
| To'lqin uzunligining aniqligi, nm | + / – 4,0 |
| To'lqin uzunligini takrorlash aniqligi, nm | + / – 2,0 |
| Fotometrik aniqlik (Ge namunasi 3 mm qalinlikda, 47% T, λ0 = 10,6 µm, AOI = 40) | + / – 0,2% |
| Fotometrik takrorlash aniqligi | + / – 0,1% |
| Asosiy qiymatning barqarorligi (7,8 µm – 13,0 µm), % / soat* | + / – 0,3% |
| Tashqaridan tushadigan yorug'lik darajasi (7,5 µm – 12,0 µm), % | <0,2 |
| Nur manbalari | IQ chiroq HgAr to'lqin kalibrlash tekshirish lampasi |
LINZA 150
| mODEL | 0217 | 0417 |
PARAMETRE | TA'RIFI | |
|---|---|---|
| OPTIK KONFIGURASYON | ||
| Fotometrik funktsiyalar | %T, %R | |
| Samarali to'lqin uzunligi diapazoni, nm | 185 - 1700 | 380 - 1700 |
| Monoxromatorning optik sxemasi | Czerni-Tyorner | |
| Optiklar | Oyna, Al + SiO2, Al + MgF2 | |
| Malumot kanali | ha | |
| To'lqin uzunligini skanerlash tezligi, nm / min | 3000 (5 to'lqin uzunligi namuna olish oralig'ida) | |
| O'lchangan namunadagi nuqta o'lchami, mm | O'tkazuvchanlik: 6,0 x 5,5 Qayta aks ettirish: 1,0 x 1,0 | |
| To'lqin uzunligi bo'yicha namuna olish balandligi, nm | 0,25 - 100 | |
Spektral aniqlikning maksimal qiymati, nm 185 (380) – 990 nm 990-1700 nm |
2,00 4,00 |
2,00 4,00 |
| To'lqin uzunligining aniqligi, nm | 0,5 | |
| To'lqin uzunligini takrorlash aniqligi, nm | + / – 0,25 | |
| Tarqalgan yorug'lik darajasi, maksimal % (@ 532 nm) | <0,1 | |
| Fotometrik aniqlik | (VIS-NIR) +/-0,0045 Qorin mushaklari (1 Qorin mushaklari); +/-0,0025 Qorin mushaklari (0,33 Qorin mushaklari); +/-0,0058 Qorin mushaklari (1.5 Qorin mushaklari) | |
| Fotometrik takrorlash aniqligi | (VIS-NIR) 0,0004 Qorin mushaklari (1 Qorin mushaklari); 0,0001 Qorin mushaklari (0,33 Qorin mushaklari); 0,005 Qorin mushaklari (1.5 Qorin mushaklari) | |
| Asosiy qiymatning barqarorligi (UV-VIS), soatiga % | <0,1 | |
| Nur manbalari | Deuteriy lampasi, Galogen lampasi, HgAr to'lqin uzunligini kalibrlashni tekshirish lampasi | Galogen lampa, HgAr to'lqin uzunligini kalibrlashni tekshirish lampasi |
LINZA 2752 MWIR
| OPTIK KONFIGURASYON | |
| Fotometrik funktsiyalar | %T |
| Samarali to'lqin uzunligi diapazoni, nm | 2700 - 5200 |
| Monoxromatorning optik sxemasi | Czerni-Tyorner |
| Optiklar | Oyna: Al + MgF2, Linzalar: CaF2 |
| Malumot kanali | ha |
| To'lqin uzunligi bo'yicha namuna olish balandligi, nm | 0,5 - 100 |
| To'lqin uzunligini skanerlash tezligi, nm / min | 3000 (5 to'lqin uzunligi namuna olish oralig'ida) |
| O'lchangan namunadagi nuqta o'lchami, mm | 4.0 x 3.0 dan 8.0 x 6.0 gacha |
| Odatdagi spektral o'lchamlari, nm* | 8,0 |
| To'lqin uzunligining aniqligi, nm | 4,0 |
| To'lqin uzunligini takrorlash aniqligi, nm | + / – 2,0 |
| Tarqalgan yorug'lik darajasi, maksimal % | 0,2 |
| Fotometrik aniqlik** | NRC NG11 SRM; +/-0.010Abs (0,49Abs) +/-0.011Abs (0,82Abs) +/-0.013Abs (1,00Abs) +/-0.015Abs (1,26Abs) |
| Fotometrik takrorlash aniqligi** | NRC NG11 SRM: +/-0.0016Abs (0,49Abs) +/-0.0036Abs (0,82Abs) +/-0.008Abs (1,00Abs) +/-0.013Abs (1,26Abs) |
| Asosiy qiymatning barqarorligi, % / soat** | + / – 0,3 |
| Nur manbalari | IQ chiroq |
EssentOptics Spektrofotometrlari haqida ma'lumot
PHOTON RT
PHOTON RT haqiqiy optik qoplama metrologiyasi uchun mo'ljallangan dunyodagi yagona spektrofotometr bo'lib, u dala sharoitida qoplamalarni mazmunli, kuzatiladigan tavsiflash imkonini beradi. U noyob tarzda keng polosali polyarizatsiyani boshqarish va tengsiz UV-MWIR diapazonida (220–5200 nm) o'zgaruvchan burchak o'lchovlarini birlashtiradi va ko'p qatlamli yupqa plyonkali optikaning real dunyodagi ishlashi haqida chuqur ma'lumot beradi.
PHOTON RT 420
PHOTON RT 0420 Ultra misli ko'rilmagan 0.06 nm spektral o'lchamlarga ega bo'lib, zamonaviy filtrlarning ishlash sifatini oshirish uchun mislsiz moslashuvchanlikni ta'minlaydi. Uning ilg'or imkoniyatlari OD8 gacha bo'lgan keng polosali o'lchovlarni amalga oshirish imkonini beradi, qiyalikning tikligini esa 0.02% gacha bo'lgan darajada tavsiflash imkoniyatiga ega.
Ultra qoplamalarning qat'iy talablarini qondirish uchun ishlab chiqilgan PHOTON RT 0420 Ultra 340 nm dan 2000 nm gacha bo'lgan to'lqin uzunligi diapazoniga ega va LIDARlar, lyuminestsent mikroskopiya, lazer xavfsizligi, telekommunikatsiya, kosmik tadqiqotlar, mudofaa va xavfsizlik kabi ilg'or dasturlar uchun turli xil qoplamalar uchun mo'ljallangan.
PHOTON RT 7514 LWIR
Optik qoplamalarning aniq va ishonchli infraqizil spektral o'lchovlari bugungi kunda eng muhim muammolardan biri hisoblanadi. Dunyo bo'ylab optik ishlab chiqaruvchilar uzoq masofali obyektlarni aniqlash va identifikatsiyalashni yaxshilash maqsadida o'zlarining tekis optikasi uchun tobora takomillashtirilgan infraqizil qoplamalarni ishlab chiqmoqdalar. Ko'pincha, ushbu optik qoplamalarni olish uchun ishlab chiqarish imkoniyatlari ularning sifatini sertifikatlash uchun mavjud metrologik imkoniyatlardan ustun turadi.
PHOTON RT 7514 spektrofotometri ushbu muammolarni samarali hal qilish uchun maxsus ishlab chiqilgan maxsus asbobdir. U LWIR spektral diapazoni uchun qoplamalarning o'tkazuvchanligi va aks ettirishini o'lchaydi. PHOTON RT 7514 ning beqiyos xususiyati shundaki, u qutblangan yorug'lik bilan o'zgaruvchan tushish burchaklarida (60 darajagacha) avtomatik o'lchovlarni amalga oshirish qobiliyatidir. Ushbu talabchan sinovlarni qo'llab-quvvatlash uchun o'rnatilgan xususiyat yuqori burchaklardagi nur siljishini aniq qoplaydi, bu esa S- va P-qutblanish o'lchovlarining bir necha daqiqada bajarilishini ta'minlaydi. Rekord maksimal 40 mm namunaviy qalinlik qo'llab-quvvatlanadi.
LINZA 150
LINZA 150 spektrofotometri linzalar va ko'p linzali yig'ilishlarning (maqsadlarning) keng polosali o'tkazuvchanligi va aks ettirishini o'lchash uchun mo'ljallangan bo'lib, optik metrologiya imkoniyatlaringizga butunlay yangi o'lcham qo'shadi.
Darhaqiqat, linzalar juda xilma-xil o'lcham va shakllarda bo'ladi, bu ularni o'lchashni juda qiyinlashtiradi. Linzalardagi o'tkazuvchanlik yoki aks ettirishni o'lchashdagi ichki qiyinchiliklarni hisobga olgan holda, optik muhandislar ko'pincha linzalarning optik ishlashi haqidagi asosiy tafsilotlarni aniqlash uchun bir nechta guvoh namunalaridan olingan ma'lumotlarni birlashtirishlari kerak bo'ladi. Biroq, har qanday cho'ktirish texnologiyasining tabiati tufayli linzalardagi qoplama guvoh namunasidagi qoplamadan farq qiladi. Bundan ham yengib bo'lmaydigan to'siq - bu optik linzalarning o'qdan tashqaridagi ishlashini o'lchash zarurati.
LINZA 150 yordamida siz linza yuzasining istalgan nuqtasida o'q bo'yicha uzatish ma'lumotlarini va aks ettirish ma'lumotlarini to'liq qarovsiz olasiz. Bu mijozlarga faqat mukammal qoplamali mukammal linzalar yetkazib berilishini va linzalarni yig'ish uchun tasdiqlanishini ta'minlaydi. Ushbu qimmatli ma'lumotlar, shuningdek, mijozlarimizga orqaga qarab tahlil qilish va cho'ktirish texnologiyasini takomillashtirishga yordam beradi.
LINZA 150 spektrofotometri, shuningdek, yetkazib beruvchingizning linzalari sizning texnik xususiyatlaringizga mos kelishini ta'minlaydigan sifat nazorati/sifat nazorati laboratoriyangiz uchun ajoyib asbobdir. Asbob oddiy linzalarni o'lchash va linzalarni qoplash texnologiyasini takomillashtirish uchun juda mos keladi.
LINZA 2752 MWIR
Optik qismlarning aksariyati linzalardir. Linzalar turli shakl va o'lchamlarda bo'ladi, ham qavariq, ham botiq, silindrsimon va asferik. Linzalar armatura yoki sayyoraviy aylanish ushlagichiga joylashtirilganda vakuum kameralarida qoplanadi.
Vakuumli cho'ktirish jarayonining tabiati tufayli linzalardagi haqiqiy o'tkazuvchanlikni yoki aks ettirishni real vaqt rejimida o'lchash imkoniyati yo'q. Shuning uchun jarayonni kuzatish uchun har doim yassi guvoh namunalari ishlatiladi. Biroq, linzalardagi qoplama ko'pincha guvoh namunasidagi qoplamadan farq qiladi. Ko'pgina ilovalar uchun haqiqiy linzaning o'tkazuvchanligini bilish juda muhimdir. Haqiqiy optik ko'rsatkichni ko'pincha barcha linzalar optik tizimga o'rnatilgandan keyingina tahlil qilish mumkin. "Yomon" linzani aniqlash uchun ko'p vaqt va kuch talab qilinishi mumkin. Bu xarajatlar bir nechta linzalarga ega tizimlar va maqsadlar uchun yanada oshadi. Aytishga hojat yo'q, to'liq linzali maqsadlarning spektral ko'rsatkichlarini ham baholash kerak!
LINZA 2752 spektrofotometri MWIR linzalari va obyektivlarining o'q bo'ylab uzatish o'lchovlari haqida gap ketganda ushbu muammolarni samarali hal qiladi. Katta bo'linmasi va toymasin detektorlari yordamida diametri 10 mm dan 150 mm gacha bo'lgan individual linzalarni va 500 mm gacha uzunlikdagi to'liq linza yig'malarini muvaffaqiyatli o'lchash mumkin.
Qo'shimcha mahsulotlar va ma'lumotlar uchun bizning asosiy veb-saytimizga tashrif buyuring.
