การปรับแต่งระบบออปติคัล
กำลังมองหาโซลูชันโฟโตนิกส์คุณภาพสูงและการปรับแต่งระบบออปติคัลอยู่ใช่ไหม มองไม่ไกลไปกว่า Wavelength Opto-Electronicทีมงาน R&D ของเรามีประสบการณ์และความเชี่ยวชาญอย่างลึกซึ้งในด้านนี้
เรามีขีดความสามารถที่หลากหลายในการพัฒนาระบบและบูรณาการซึ่งรวมถึงแต่ไม่จำกัดเพียง :
- อุปกรณ์ตรวจสอบคุณสมบัติทางแสง
- โมดูลออปติกรวมถึงมอเตอร์และซอฟต์แวร์ควบคุม
- ระบบการสอบเทียบพลังงานเลเซอร์
- ระบบไบโออิมเมจ
- การจำลองและการแก้ไขปัญหาเซ็นเซอร์ออปติคอลต่างๆ เป็นต้น
เรามีประวัติที่พิสูจน์แล้วในการทำให้วิสัยทัศน์ที่พึงพอใจของลูกค้าเป็นจริง และเรามั่นใจว่าเราสามารถทำเช่นเดียวกันให้คุณได้
โครงการปรับแต่งที่โดดเด่น
เครื่องมือวัดโปรไฟล์ลำแสงแบบกำหนดเอง
ระบบวิเคราะห์ลักษณะลำแสงเลเซอร์เป็นแพลตฟอร์มเดียวที่ปรับขนาดได้ ออกแบบมาเพื่อรองรับทุกขั้นตอนการทำงานของเลเซอร์ของคุณ ด้วยช่วงสเปกตรัมกว้าง 340–2100 นาโนเมตร และช่วงกำลังไฟที่รองรับได้ตั้งแต่ 1 มิลลิวัตต์ถึง 3 กิโลวัตต์ จึงให้ผลการวิเคราะห์ลักษณะลำแสงที่แม่นยำและทำซ้ำได้ ตั้งแต่ช่วงคลื่นแสงที่มองเห็นได้ไปจนถึง SWIR เซ็นเซอร์คู่ที่สามารถสลับใช้งานได้ และตัวลดขนาดลำแสงสำหรับช่องรับแสงขนาดสูงสุด 60 มิลลิเมตร ให้ความยืดหยุ่นเป็นพิเศษ ในขณะที่การรายงานด้วยการคลิกเพียงครั้งเดียวช่วยเพิ่มประสิทธิภาพการควบคุมคุณภาพด้วยเอกสารที่เป็นมาตรฐานและรวดเร็ว
ระบบนี้ได้รับการออกแบบมาเพื่อรักษาความต่อเนื่องของข้อมูลระหว่างแผนกต่างๆ ช่วยลดการฝึกอบรมซ้ำและลดต้นทุนด้านอุปกรณ์เมื่อโครงการของคุณพัฒนาขึ้น ระบบนี้สร้างขึ้นเพื่อสภาพแวดล้อมที่ต้องการความทนทานสูง โดยผสานรวมอุปกรณ์ดักจับลำแสงระบายความร้อนด้วยอากาศขนาด 3 กิโลวัตต์ พร้อมระบบตรวจสอบความร้อน เพื่อให้มั่นใจได้ว่าการวัดกำลังสูงมีความปลอดภัย แม้ในสภาพแวดล้อมทางอุตสาหกรรม กล่องใส่สำหรับขนส่งแบบกันน้ำกระเด็นและมีแผ่นรองกันกระแทก ช่วยปกป้องอุปกรณ์ทั้งหมดเพื่อการใช้งานภาคสนามที่เชื่อถือได้
เครื่องมือประกอบและตรวจสอบคุณภาพ
เครื่องมือนี้ได้รับการพัฒนาเป็นพิเศษเพื่อตรวจสอบความเยื้องศูนย์ในการประกอบและข้อบกพร่องของเลนส์หล่อขึ้นรูปที่มีขนาดเล็กและยากต่อการแยกแยะด้านหน้าหรือด้านหลังบนพื้นผิว
หน้าที่หลักของเครื่องมือทดสอบคือการวัดค่าการกระจายตัวของชุดเลนส์เทียบกับตัวเรือน การตรวจสอบเลนส์กลับด้าน และตรวจสอบข้อบกพร่อง เช่น รอยจมบนพื้นผิวเลนส์
โมดูล Dual FOV ความแม่นยำสูง
โมดูล Precision Dual FOV ได้รับการออกแบบโดยใช้สถาปัตยกรรมอะโครมาติกแบบออนแอ็กซิส 633 นาโนเมตร ระบบนี้ช่วยลดความคลาดเคลื่อนของสีเพื่อให้ได้ภาพชิ้นงานแบบเรียลไทม์ที่ปราศจากความบิดเบี้ยว เลนส์ท่อกำหนดขอบเขตการมองเห็นและกำลังขยายให้ตรงกับความต้องการใช้งาน: TB-633-56-D15 (WFOV) ให้กำลังขยาย 1 เท่าสำหรับการจัดตำแหน่งแบบเต็มพื้นที่และการตั้งค่ากระบวนการ ในขณะที่ TB-633-798-D15 (NFOV) ให้กำลังขยาย 14.25 เท่าสำหรับการตรวจสอบรายละเอียดและการประเมินคุณลักษณะที่ละเอียด การกำหนดค่าที่ยืดหยุ่นนี้ช่วยให้มั่นใจได้ถึงการตอบสนองทางภาพที่ชัดเจนโดยปราศจากข้อผิดพลาดในการจัดตำแหน่งหรือการคาดเดาในการตีความ
หัวใจหลักของระบบคือเลนส์สแกน TSLA-1064-633-18-56 ซึ่งทำหน้าที่สองอย่าง คือ กำหนดทิศทางเส้นทางการสแกนของเลเซอร์ และในขณะเดียวกันก็ทำหน้าที่เป็นองค์ประกอบหลักในการสร้างภาพ ด้วยพื้นที่การสแกน 16 × 18 มม. ระยะการทำงาน 64.07 มม. และขนาดจุดตั้งแต่ 5.3 ถึง 9.33 µm ทำให้มั่นใจได้ถึงความสัมพันธ์ที่แน่นแฟ้นระหว่างพื้นที่ที่ประมวลผลและภาพที่ได้ เส้นทางแสงแบบบูรณาการรับประกันความสอดคล้องเชิงพื้นที่ที่แม่นยำ ทำให้สามารถวิเคราะห์คุณภาพของคุณลักษณะ ความคมชัดของขอบ และความสม่ำเสมอของกระบวนการโดยรวมได้อย่างเป็นปริมาณ ด้วยความละเอียดต่ำสุดที่ 5.3 µm ใน NFOV ระบบนี้เปลี่ยนการตรวจสอบเลเซอร์จากการสังเกตแบบอัตนัยไปสู่การควบคุมที่ขับเคลื่อนด้วยข้อมูล
กล้องโทรทรรศน์ที่โฟกัสได้ขนาด 2 กิโลวัตต์
กล้องโทรทรรศน์ที่สามารถโฟกัสได้ขนาด 2 กิโลวัตต์ใช้สำหรับการกำหนดเป้าหมายระยะไกลและทำงานร่วมกับไฟเบอร์เลเซอร์โหมดเดียวที่ 1060 ถึง 1080 นาโนเมตรด้วยกำลังแสงเลเซอร์เล็กน้อยตั้งแต่ 1.5 KW ถึง 2 KW ระยะการทำงานอยู่ในช่วงตั้งแต่ 100 ม. ถึง 800 ม. โดยมีเส้นผ่านศูนย์กลางลำแสงโฟกัส <=16 มม. สำหรับระยะตั้งแต่ 100 ม. ถึง 550 ม. และเส้นผ่านศูนย์กลางลำแสงโฟกัส <=25 มม. ภายในช่วงระยะการทำงานทั้งหมด
กล้องโทรทรรศน์นี้รับสัญญาณระยะทางจากระบบภายนอกและปรับโฟกัสที่ความถี่ 10 Hz มีขนขวางบนเลนส์ซูมซึ่งระบุจุดกึ่งกลางของลำแสงเลเซอร์ที่เป้าหมายเทียบกับระยะการทำงานและปัจจัยการซูมที่แตกต่างกัน สรุปแล้ว มีขนาดกะทัดรัดพร้อมความหนาแน่นของพลังงานสูง สามารถปรับขนาดจุดให้เล็กลงสำหรับระยะไกล และจัดตำแหน่งได้ดีกับเลนส์ซูมเพื่อการสังเกตการณ์
ระบบสอบเทียบไฟเบอร์เลเซอร์ 1kW
เราได้สร้างระบบสอบเทียบเครื่องวัดกำลังเลเซอร์ไฟเบอร์ขนาด 1 กิโลวัตต์ สำหรับเลเซอร์ 1064 นาโนเมตร ในช่วงกำลัง 100 วัตต์ ถึง 1 กิโลวัตต์ ระบบนี้รองรับการเปรียบเทียบทางอ้อมระหว่างเครื่องวัดกำลังอ้างอิง (REF) และหน่วยที่กำลังสอบเทียบ (UUC) ทำให้ได้เส้นโค้งการสอบเทียบที่แม่นยำ (ค่าที่อ่านได้เทียบกับค่ามาตรฐาน) ด้วยความไม่แน่นอนในการวัดต่ำ
ความท้าทายทางเทคนิคที่สำคัญประการหนึ่งคือการจัดการกับความแปรปรวนที่เกิดจากโพลาไรเซชันระหว่างการสุ่มตัวอย่างลำแสง แหล่งกำเนิดแสงเลเซอร์กำลังสูง 1064 นาโนเมตรมักแสดงโพลาไรเซชันแบบสุ่ม และแม้แต่ความไวต่อโพลาไรเซชันเพียงเล็กน้อยในตัวแยกแสงก็อาจทำให้เกิดข้อผิดพลาดในการสอบเทียบอย่างมาก เพื่อแก้ไขปัญหานี้ วิศวกรของเราได้นำการออกแบบการแยกแสงแบบไขว้ที่ไม่ใช้โพลาไรเซชันมาใช้ โดยใช้ตัวสุ่มตัวอย่างลำแสงสองตัวที่เหมือนกันซึ่งวางทำมุม 90° รอบแกนลำแสง การกำหนดค่านี้ช่วยปรับสมดุลพลังงานสะท้อนและพลังงานส่งผ่านได้อย่างมีประสิทธิภาพ ลดความแปรปรวนที่ขึ้นอยู่กับโพลาไรเซชันให้น้อยที่สุด
ความสามารถอื่น ๆ
เลนส์ที่กำหนดเอง
ไม่พบออปติคที่หาซื้อได้ตามข้อกำหนดเฉพาะของคุณใช่ไหม ตรวจสอบความสามารถในการผลิตเลนส์แบบกำหนดเองของเรา และเริ่มปรับแต่งเลนส์ของคุณกับเราตอนนี้
เคลือบแสง
ไม่พบออปติคที่หาซื้อได้ตามข้อกำหนดเฉพาะของคุณใช่ไหม ตรวจสอบความสามารถในการผลิตเลนส์แบบกำหนดเองของเรา และเริ่มปรับแต่งเลนส์ของคุณกับเราตอนนี้
การออกแบบออฟติคอล
ทีมออกแบบออปติคัลของเราประกอบด้วยนักออกแบบออพติคอลที่มีประสบการณ์และมีความสามารถ ซึ่งเชี่ยวชาญในการสร้างการออกแบบออพติคอลแบบกำหนดเองสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย
