Precisionsoptiska system för TGV-tillverkning med fs-laser
Applikationsanteckning Serienummer: AN-SGYL-01-03-26
Författare: Dr. Qu Yingli – FoU-direktör
Redaktör: Bryan Ng – Marknadschef
Publicerad på:
Senast redigerad:

Genomgående glasvias (TGV) är en avgörande möjliggörande teknik för avancerad elektronisk och fotonisk kapsling, med växande tillämpningar inom RF- och mmWave-moduler, högdensitetsmellanlägg, MEMS-kapsling, bildsensorer och integrerad fotonik. De möjliggör tillförlitliga vertikala elektriska sammankopplingar genom glassubstrat, vilket stöder kompakta tredimensionella arkitekturer och heterogen integration över flera enhetsplattformar.
I framväxande AI-drivna system som AI-acceleratorer, integration av högbandbreddminne (HBM), chiplet-baserade arkitekturer och avancerad sampaketerad optik spelar TGV:er en allt viktigare roll genom att tillhandahålla vertikala sammankopplingar med låg förlust och hög densitet samt utmärkt termisk och dimensionell stabilitet. Deras materialegenskaper bidrar till att upprätthålla exakt uppriktning och strukturell integritet, vilket är avgörande för tätt integrerade flerchipssystem som arbetar med höga datahastigheter.
Jämfört med konventionella kisel- eller organiska substrat erbjuder glasmellanlägg med TGV lägre dielektriska förluster vid höga frekvenser, förbättrad signalintegritet och bättre energieffektivitet. Glas ger också överlägsen ytjämnhet, låg skevhet och stark elektrisk isolering, vilket möjliggör finare omfördelningsskikt och högre sammankopplingstäthet. Dessa fördelar är avgörande för storskalig AI-beräkning, höghastighetsdataförflyttning och heterogen integration, där minimering av signalförsämring och strömförbrukning direkt påverkar systemets totala prestanda.
I takt med att AI-hårdvara fortsätter att skalas upp i komplexitet och bandbreddskrav blir TGV-tekniken ett viktigt infrastrukturelement för nästa generations AI-plattformar. Genom att stödja hög bandbredd, kommunikation med låg latens och skalbar systemintegration bidrar TGV:er till mer effektiva, kompakta och högpresterande datorarkitekturer.
1. TGV-bildningstekniker och fördelarna med ultrasnabb laserbearbetning

TGV:er kan tillverkas med en mängd olika tekniker, inklusive mekanisk borrning, våt- och torrkemisk etsning, sandblästring, elektrisk urladdningsbearbetning och laserbaserad bearbetning. Varje metod har sina egna avvägningar när det gäller uppnåeliga möjligheter via diameter, bildförhållande, konvinkel, sidoväggsjämnhet, genomströmning, skalbarhet och total processkostnad. Till exempel är mekanisk borrning relativt enkel men begränsad i minsta funktionsstorlek och kan medföra flisning. Kemisk etsning kan uppnå jämnare sidoväggar men kräver ofta masker och längre bearbetningstider. Elektrisk urladdningsbearbetning är lämplig för vissa ledande lager men är mindre vanligt för rena glassubstrat. Därför måste valet av en tillverkningsmetod noggrant anpassas till målapplikationen, krav på elektrisk prestanda och tillverkningsvolym.

Bland de tillgängliga teknikerna erbjuder ultrasnabb laserbearbetning, särskilt femtosekundlasrar (fs), betydande fördelar för TGV-bildning. Fs-lasrar möjliggör hög precision via borrning med minimala värmepåverkade zoner, försumbar mikrosprickbildning och utmärkt sidoväggskvalitet tack vare ickelinjär absorption och så kallade "kalla" ablationsmekanismer i transparenta material. Eftersom energiavsättning sker på en ultrakort tidsskala minskas termisk diffusion i det omgivande materialet kraftigt, vilket resulterar i begränsade kollateralskador och hög dimensionsnoggrannhet.
Dessutom stöder fs-laserbearbetning tillverkning av vias med högt aspektförhållande och liten diameter med snäv positionstolerans, vilket gör den väl lämpad för interposer-design med hög densitet och avancerade 2.5D- och 3D-integrationsscheman. Flexibiliteten hos laserbaserad mönstring möjliggör också masklös bearbetning, snabb designiteration och kompatibilitet med ett brett utbud av glastyper. Dessa egenskaper gör fs-laserbaserad TGV-tillverkning särskilt attraktiv för nästa generations högpresterande elektroniska och fotoniska kapslingar, där tillförlitlighet, precision och skalbarhet är avgörande.
2. Utmaningarna inom optisk design och tillverkning av precisionsoptiska system för TGV-tillverkning med fs-laser
Design och tillverkning av optiska system för femtosekundlaserbehandlingssystem (fs) innebär betydande tekniska utmaningar på grund av de samtidiga kraven på ultrakort pulsbevarande, hög toppeffekthantering och extrem spatial precision. Till skillnad från konventionella nanosekundlaser- eller kontinuerliga våglasersystem förlitar sig fs-lasrar på att bibehålla extremt korta pulslängder för att driva ickelinjära absorptionsmekanismer. All oavsiktlig tidsbreddning minskar direkt toppintensiteten och äventyrar bearbetningseffektiviteten och repeterbarheten.
Ur ett optiskt designperspektiv måste systemet noggrant kontrollera kromatisk dispersion, gruppfördröjningsdispersion (GDD) och högre ordningens dispersion över hela strålgången för att förhindra pulsbreddning som skulle minska den ickelinjära absorptionseffektiviteten. Detta inkluderar bidrag från bulkmaterial, transmissiv optik, skyddande fönster , strålexpanderare , skanningslinser och till och med luftvägar. Dispersionskompensationsstrategier som kvittrande speglar eller förkompensationsscheman krävs ofta. Samtidigt måste optiken stödja hög numerisk aperturfokusering för att uppnå funktioner på mikron- eller submikronskala samtidigt som tillräckligt arbetsavstånd, telecentricitet där det behövs och enhetlig energifördelning över fokusvolymen bibehålls. Att balansera hög NA-prestanda med storfältsskanningskapacitet ökar systemets komplexitet ytterligare.
Ur tillverkningssynpunkt krävs det att optiska komponenter uppvisar exceptionell ytkvalitet, figurnoggrannhet och materialhomogenitet för att undvika vågfrontsförvrängning, lokal fältförstärkning och laserinducerad skada under höga toppintensiteter. Även små defekter eller inneslutningar under ytan kan fungera som skadeinitieringsplatser under ultrasnabb bestrålning. Snäva centreringstoleranser och exakt inriktning är avgörande för att bevara strålkvaliteten och minimera aberrationer. Dessutom är bredbandiga, lågdispersions- och allvarliga skadetröskelbeläggningar svåra att designa och tillverka konsekvent, särskilt för komplexa flerelementslinsaggregat som arbetar över en rad infallsvinklar. Beläggningsspänning, miljömässig hållbarhet och långsiktig stabilitet måste också beaktas.
Dessa kombinerade begränsningar gör fs-laseroptiska system betydligt mer krävande än konventionell nanosekund- eller kontinuerligvågslaseroptik . Framgångsrik implementering kräver nära samoptimering av optisk design, substratmaterial, beläggningsteknik, värmehantering och ultraprecisionstillverkningsprocesser för att säkerställa stabil, repeterbar och högpresterande drift i industriella miljöer.
3. Optiska krav och linsval
Trots de många utmaningar som nämnts ovan, Wavelength Opto-Electronic har framgångsrikt utvecklat typer av precisionsoptik som kan användas vid tillverkning av TGV-fordon med en fs-laser. Och uppfyller kraven nedan:
Linssystemet måste fokusera ultrasnabba laserpulser i fläckar på ~20–50 µm och bibehålla jämn fokus över skanningsfältet. Telecentriska F-theta-skanningslinser minimerar avsmalning och distorsion.
Rekommenderade linser (TSL-serien) stöder våglängderna 355 nm, 515 nm eller 1030 nm och levererar de erforderliga punktstorlekarna. En kortare våglängd ger mindre hål; UV 355 nm-linser ger de minsta hålen, medan IR 1030 nm-linser är optimerade för djupare eller tjockare glassubstrat.
Tabell 1. Rekommenderade linser för TGV-applikationer med fs/ps-laser
| Linsmodell | Laservåglängd | BRÄNNVIDD | Skanna fält | Typisk Applikation |
| TSL‑355‑45‑100Q‑NA‑V1 | UV 355 nm | 100 mm | 45 × 45 mm | Minsta viastorlek (~20 µm) |
| TSL‑515‑45‑100Q‑NA‑V1 | Grön 515 nm | 100 mm | 45 × 45 mm | Balanserad upplösning och dataflöde |
| TSL‑515‑55‑115Q‑NA | Grön 515 nm | 115 mm | 55 × 55 mm | Större fält, ~25 µm vias |
| TSL‑1030‑55‑115Q‑NA | IR 1030 nm | 115 mm | 55 × 55 mm | Djupa vias och tjockt glas |
4. Sammanfattning
TGV-tekniken framträder snabbt som en hörnsten inom avancerad elektronisk och fotonisk kapsling, drivet av den växande efterfrågan på högre bandbredd, ökad integrationstäthet och överlägsen signalintegritet i nästa generations elektroniska och fotoniska enheter. Förmågan att skapa täta vertikala sammankopplingar med låga förluster i glassubstrat är avgörande för tillämpningar som sträcker sig från höghastighets-RF- och mmWave-moduler till minnesintegration med hög bandbredd, chiplet-baserade arkitekturer, MEMS-kapsling, bildsensorer och integrerad fotonik.
Precisionsoptiska system utformade för femtosekunds fs-laserbehandling spelar en avgörande roll i denna utveckling, vilket möjliggör bildandet av ultraprecisa mikroviaer med högt aspektförhållande med minimal termisk skada, försumbar mikrosprickbildning och exceptionell dimensions- och ytkvalitetskontroll. Genom att noggrant hantera pulslängd, dispersion och energifördelning möjliggör dessa optiska system tillförlitlig tillverkning av högdensitetsvialer som uppfyller de stränga kraven för modern elektronisk och fotonisk integration.
Utnyttjar djupgående expertis inom ultrasnabb laseroptik, Wavelength Opto-Electronic har utvecklat en omfattande portfölj av högpresterande linslösningar som spänner över UV- till NIR-våglängder, inklusive optik med hög numerisk bländare och låg dispersion, optimerad för femtosekundlaserbehandling. Dessa lösningar stöder direkt fs-laserbaserad TGV-tillverkning, vilket säkerställer jämn kvalitet, hög genomströmning och skalbarhet. Genom dessa bidrag, Wavelength Opto-Electronic bidrar till att utveckla det globala TGV-ekosystemet och möjliggör nästa generations hårdvaruplattformar som kräver hög prestanda, tillförlitlighet och precision i komplexa, heterogena integrationsmiljöer.
