Спектрофотометры EssentOptics
Спектрофотометр — это прибор, используемый для измерения пропускания/отражения света на разных длинах волн для образцов. Он широко используется в областях химии, физики, биохимии и молекулярной биологии.
Спектрофотометр работает, пропуская луч света через образец и измеряя количество света, которое поглощается или передается/отражается образцом на разных длинах волн. Основные компоненты спектрофотометра включают источник света, монохроматор или селектор длины волны, держатель образца и детектор.
EssentOptics разрабатывает высокоточные спектрофотометры для производителей покрытий, ориентируясь исключительно на потребности оптических измерений. Wavelength Opto-Electronic является партнером бренда спектрофотометров EssentOptics для Сингапур.
Фотон RT UV-VIS-MWIR
| Модель | 0217 | 0226 | 0252 | |||
| ОПТИЧЕСКАЯ КОНФИГУРАЦИЯ | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Фотометрические функции | % T,% R | |||||
| Эффективный диапазон длин волн, нм | 185 – 1700 | 185 – 2600 | 185 – 5200 | |||
| Встроенный поляризатор, нм | 220 – 1700 | 220 – 2600 | 220 – 5200 | |||
| Оптическая схема монохроматора | Черни-Тернер | |||||
| Оптика | Зеркало, MgF2 | |||||
| Контрольный канал | Да | |||||
| Шаг выборки по длине волны, нм | 0,25 – 100 | |||||
| Размер пятна на измеряемом образце, мм | 6 x 2 → 2 x 2 | |||||
| Угол поворота предметного столика | 0,01 град | |||||
| Угол поворота фотоприемников | 0,01 град | |||||
| Компенсация смещения луча | -60,0 мм … 0 … +60,0 мм (Фактическое значение зависит от положения детектора) | |||||
| Измерения с переменным углом | 1. Диапазон пропускания: 0–75 градусов (до 85 градусов при использовании предметного столика 7085). | |||||
| Поддиапазоны длин волн, нм | Предельное спектральное разрешение, нм (неполяризованный свет) | Погрешность по длине волны, нм | Точность повторения длины волны, нм | |||
| 185 – 990 нм | 0,6 | + / - 0,5 | + / - 0,25 | |||
| 990 – 1700 / 2450 / 2600 нм | 1,2 | + / - 1,0 | + / - 0,5 | |||
| 2450 - 5200 нм | 2,4 | + / - 2,0 | + / - 1,0 | |||
| Уровень рассеянного света, % при 532 нм | ˂ 0,1 | |||||
| Угол расходимости луча | +/- 1 град | |||||
Фотометрическая точность (диапазон видимого и ближнего инфракрасного излучения) Стандартные эталонные материалы, откалиброванные на спектрофотометре, прослеживаемом до стандартов NIST. | (ВИД-БИК) +/-0,0045 абс. (1 абс.); +/-0,0025 абс. (0,33 абс.); +/-0,0058 абс. (1.5 абс.) | |||||
Фотометрическая точность воспроизведения (диапазон видимого и ближнего инфракрасного излучения) Определяется с накоплением 0,1 секунды, максимальное отклонение для 10 последующих измерений | (ВИД-БИК) 0,0004 Abs (1 Abs); 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (1.5 Abs) | |||||
| Стабильность базовой линии, %/час (диапазон VIS) | ˂ 0,1 (время разминки - один час) | |||||
| Автоматические измерения поляризации со встроенными поляризаторами | S, P, (S + P) / 2 | |||||
| Нулевой порядок / Зеленый луч | встроенный, автоматический | |||||
| Источники света, предустановленные | 1. Дейтериевая лампа: 1 шт. | |||||
| Источники света, запасные | Галогенная лампа: 2 шт. (входит в комплект поставки). Другие запасные источники света можно заказать дополнительно. | |||||
Фотон RT 0420
| ОПТИЧЕСКАЯ КОНФИГУРАЦИЯ | |
| Оптическая схема монохроматора | Двойная аддитивная функция Черни-Тёрнера |
| Оптика | Зеркало, защищенное Ag |
| Контрольный канал | Да |
| Шаг выборки по длине волны, нм | 0,01 - 100 |
| Размер пятна на измеряемом образце, мм | 4 х 3 |
| Фотометрические функции | %Т, ОД |
| Эффективный диапазон длин волн, нм | 340 – 2000 |
Максимальное спектральное разрешение, нм 400 990-нм 990 2000-нм |
0,06 0,13 |
Погрешность по длине волны, нм 400 990-нм 990 2000-нм |
+ / - 0,02 + / - 0,04 |
Точность повторения длины волны, нм 400 990-нм 990 2000-нм |
+ / - 0,01 + / - 0,02 |
Предельная оптическая плотность, -log10(T) 340 420-нм 420 925-нм 925 2000-нм |
6 8 7 |
| Уровень рассеянного света, % при 532 нм | < 0,000001 (1x10E-6) |
| Угол расходимости луча, град. | + / - 0,2 |
| Фотометрическая точность | (ВИД-БИК) |
| Фотометрическая повторяемость | (ВИД-БИК) 0,0004 Abs (1 Abs); 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (1.5 Abs) |
| Стабильность исходного уровня, %/час | < 0,2 (время разминки — один час) |
| Источники света | Источник высокоэнергетической плазмы, калибровочная лампа на основе HgAr с измерением длины волны. Все источники встроены и предварительно настроены. |
ФОТОНО RT 7514 LWIR
| ОПТИЧЕСКАЯ КОНФИГУРАЦИЯ | |
| Фотометрические функции | % T,% R |
| Эффективный диапазон длин волн, мкм | 7,5 – 14,0 |
| Встроенные поляризаторы, мкм | 7,5 – 14,0 |
| Оптическая схема монохроматора | Черни-Тернер |
| Оптика | Зеркало: Au, Линзы: ZnSe + AR |
| Измерение передачи | Измерения с переменным углом: углы падения от 0 до 60 градусов. |
| Измерение отражения | Сменные предметные столики с фиксированными углами падения: 10, 30, 45 и 60 градусов. Образец для сравнения: золотое зеркало |
| Угол поворота предметного столика, град. | 0,01 |
| Компенсация смещения луча, мм | 40 |
| Автоматизированные поляризационные измерения со встроенными поляризаторами | S, P, (S + P) / 2 |
| Шаг выборки по длине волны, нм | 5 – 100 |
| Размер пятна на измеряемом образце (неполяризованный свет), мм | 2,0 х 6,0 (Ш х В) |
| Максимальное спектральное разрешение (неполяризованный свет), нм | 15 |
| Погрешность по длине волны, нм | +/- 4,0 |
| Точность повторения длины волны, нм | +/- 2,0 |
| Фотометрическая точность (образец Ge толщиной 3 мм, 47% T, λ)0 = 10,6 мкм, AOI = 40) | +/- 0,2% |
| Фотометрическая повторяемость | +/- 0,1% |
| Стабильность исходного уровня (7,8 мкм – 13,0 мкм), % / час* | +/- 0,3% |
| Уровень рассеянного света (7,5 мкм – 12,0 мкм), % | <0,2 |
| Источники света | ИК-лампа Лампа для проверки калибровки длины волны HgAr |
ЛИНЗА 150
| Модель | 0217 | 0417 |
ПАРАМЕТР | ОПИСАНИЕ | |
|---|---|---|
| ОПТИЧЕСКАЯ КОНФИГУРАЦИЯ | ||
| Фотометрические функции | % T,% R | |
| Эффективный диапазон длин волн, нм | 185 – 1700 | 380 – 1700 |
| Оптическая схема монохроматора | Черни-Тернер | |
| Оптика | Зеркало, Al + SiO2, Al + MgF2 | |
| Контрольный канал | Да | |
| Скорость сканирования длины волны, нм/мин | 3000 (с шагом дискретизации 5 длин волн) | |
| Размер пятна на измеряемом образце, мм | Коэффициент пропускания: 6,0 x 5,5 Коэффициент отражения: 1,0 x 1,0 | |
| Шаг выборки по длине волны, нм | 0,25 – 100 | |
Максимальное спектральное разрешение, нм 185 (380) - 990 нм 990 - 1700 нм |
2,00 4,00 |
2,00 4,00 |
| Погрешность по длине волны, нм | 0,5 | |
| Точность повторения длины волны, нм | +/- 0,25 | |
| Уровень рассеянного света,% макс (@ 532 нм) | <0,1 | |
| Фотометрическая точность | (ВИД-БИК) +/-0,0045 абс. (1 абс.); +/-0,0025 абс. (0,33 абс.); +/-0,0058 абс. (1.5 абс.) | |
| Фотометрическая повторяемость | (ВИД-БИК) 0,0004 Abs (1 Abs); 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (1.5 Abs) | |
| Стабильность исходного уровня (УФ-видимый диапазон), % / час | <0,1 | |
| Источники света | Дейтериевая лампа, галогенная лампа, лампа для проверки калибровки длины волны HgAr | Галогенная лампа, лампа для проверки калибровки длины волны HgAr |
ЛИНЗА 2752 МВИР
| ОПТИЧЕСКАЯ КОНФИГУРАЦИЯ | |
| Фотометрические функции | %T |
| Эффективный диапазон длин волн, нм | 2700 – 5200 |
| Оптическая схема монохроматора | Черни-Тернер |
| Оптика | Зеркало: Al + MgF2Линзы: CaF2 |
| Контрольный канал | Да |
| Шаг выборки по длине волны, нм | 0,5 – 100 |
| Скорость сканирования длины волны, нм/мин | 3000 (с шагом дискретизации 5 длин волн) |
| Размер пятна на измеряемом образце, мм | от 4.0 x 3.0 до 8.0 x 6.0 |
| Типичное спектральное разрешение, нм* | 8,0 |
| Погрешность по длине волны, нм | 4,0 |
| Точность повторения длины волны, нм | +/- 2,0 |
| Уровень рассеянного света, % от максимального значения | 0,2 |
| Фотометрическая точность** | NRC NG11 SRM; +/-0.010 абс (0,49 абс) +/-0.011 абс (0,82 абс) +/-0.013 абс (1,00 абс) +/-0.015 абс (1,26 абс) |
| Фотометрическая точность повторения** | NRC NG11 SRM: +/-0.0016 абс (0,49 абс) +/-0.0036 абс (0,82 абс) +/-0.008 абс (1,00 абс) +/-0.013 абс (1,26 абс) |
| Стабильность исходного уровня, % / час** | +/- 0,3 |
| Источники света | ИК-лампа |
Информация о спектрофотометрах EssentOptics
ФОТОН РТ
PHOTON RT — это единственный в мире спектрофотометр, специально разработанный для точной оптической метрологии покрытий, позволяющий проводить значимую и прослеживаемую характеризацию покрытий в условиях, приближенных к полевым. Он уникальным образом сочетает в себе широкополосный контроль поляризации и измерения с переменным углом в беспрецедентном диапазоне УФ- и СВЧ-излучения (220–5200 нм), обеспечивая глубокое понимание реальных характеристик многослойной тонкопленочной оптики.
Фотон RT 420
Обладая беспрецедентным спектральным разрешением 0.06 нм, PHOTON RT 0420 Ultra обеспечивает непревзойденную гибкость для квалификации характеристик передовых фильтров. Его расширенные возможности позволяют проводить широкополосные измерения до оптической плотности OD8, с возможностью определения крутизны склона на уровне всего 0.02%.
Разработанный для удовлетворения жестких требований к ультратонким покрытиям, PHOTON RT 0420 Ultra имеет диапазон длин волн от 340 нм до 2000 нм и предназначен для широкого спектра покрытий в передовых областях применения, включая лидары, флуоресцентную микроскопию, лазерную безопасность, телекоммуникации, освоение космоса, оборону и безопасность.
ФОТОНО RT 7514 LWIR
Точные и надежные измерения инфракрасного спектра оптических покрытий представляют собой одну из важнейших задач современности. Производители оптики по всему миру все чаще заказывают для своих планарных оптических систем сложные ИК-покрытия, стремясь улучшить обнаружение и идентификацию объектов на больших расстояниях. Зачастую производственные мощности по получению таких оптических покрытий превосходят существующие метрологические возможности по сертификации их качества.
Спектрофотометр PHOTON RT 7514 — это специализированный прибор, разработанный специально для эффективного решения этих задач. Он измеряет пропускание и отражение покрытий в длинноволновом инфракрасном диапазоне (LWIR). Непревзойденной особенностью PHOTON RT 7514 является его способность выполнять автоматические измерения при различных углах падения (до 60 градусов) с поляризованным светом. Для поддержки этих сложных испытаний встроенная функция точно компенсирует смещение луча под большими углами, обеспечивая проведение измерений S- и P-поляризации всего за несколько минут. Поддерживается рекордная максимальная толщина образца — 40 мм.
ЛИНЗА 150
Спектрофотометр LINZA 150 предназначен для широкополосного измерения пропускания и отражения линз и многолинзовых сборок (объективов), открывая совершенно новые возможности в области оптической метрологии.
Действительно, линзы бывают самых разных размеров и форм, что делает их измерение чрезвычайно сложным. Учитывая присущие измерениям коэффициентов пропускания или отражения на линзах сложности, инженерам-оптикам часто приходится объединять данные с нескольких контрольных образцов, чтобы выявить основные сведения об оптических характеристиках линзы. Однако из-за особенностей любой технологии нанесения покрытия, покрытие на линзах отличается от покрытия на контрольном образце. Еще более непреодолимым препятствием является необходимость измерения внеосевых характеристик оптической линзы.
С помощью LINZA 150 вы получаете данные о пропускании по оси и данные об отражении в любой точке поверхности линзы, полностью в автоматическом режиме. Это гарантирует, что заказчикам поставляются только идеальные линзы с идеальным покрытием, одобренные для использования в линзовых сборках. Эти ценные данные также помогают нашим клиентам проводить обратный анализ и улучшать свои технологии нанесения покрытий.
Спектрофотометр LINZA 150 также является отличным инструментом для вашей лаборатории контроля качества, гарантируя, что линзы от вашего поставщика соответствуют вашим требованиям. Прибор идеально подходит как для рутинных измерений линз, так и для сложных усовершенствований технологии нанесения покрытий на линзы.
ЛИНЗА 2752 МВИР
Большинство оптических элементов представляют собой линзы. Линзы бывают самых разнообразных форм и размеров: выпуклые, вогнутые, цилиндрические и асферические. Покрытие линз наносится в вакуумных камерах при установке на приспособление или держатель планетарного вращения.
Из-за особенностей процесса вакуумного напыления невозможно измерить фактическое пропускание или отражение линз в реальном времени. Поэтому для контроля процесса всегда используются плоские контрольные образцы. Однако покрытие на линзах часто отличается от покрытия на контрольном образце. Для многих применений крайне важно знать пропускание реальной линзы. Фактические оптические характеристики часто можно проанализировать только после установки всех линз в оптическую систему. Выявление «неисправной» линзы может занять значительное время и потребовать больших усилий. Эти затраты еще больше возрастают для систем и объективов, содержащих несколько линз. Разумеется, необходимо также оценивать спектральные характеристики полных объективов с линзами!
Спектрофотометр LINZA 2752 эффективно решает эти задачи при проведении измерений пропускания в средневолновом инфракрасном диапазоне с помощью линз и объективов. Благодаря большому отсеку и скользящим детекторам можно успешно измерять отдельные линзы диаметром от 10 до 150 мм, а также целые линзовые сборки с длиной от конца до конца до 500 мм.
Для получения дополнительной информации о продукции посетите наш основной веб-сайт.
