EssentOptics Spectrophotometers

EssentOptica alta accuratio spectrophotometris enucleat pro coaters solum in necessitatibus metiendis opticis positis. Wavelength Opto-Electronic est auctoris distributor EssentOptics notam productorum in Singapore.

  • PHOTON RT
 PHOTON RT Spectrophotometer. Product configurationis
 185 - 1700185 - 3500185 - 5200380 - 1700380 - 3500380 - 5200
Productum Specifications
Optical ratio monochromatisCzerny-Turner
opticaSpeculum, MgF2
Reference channelYes
Necem sampling pix, nm0,1 - 100
Necem intuens celeritas, nm/min3 000 (ad 5 nm necem sampling picem);
Macula magnitudinis in mensurato specimen, nmUsor electus: 6 2 --> 2 x 2
Conversus picem angulo sample scaena0,01 gradus &
Conversus picis angulus photodetectors0,01 gradus &
Trabes obsessio ultricies-60,0 mm ... 0 ... +60,0 mm (valor actualis a positione detectoris pendet)
Variabilis anguli mensurae

1. 0 - 75 grad pro transmissione (usque ad 85 grad cum 70 - 85 specimen scaena)

2. 8 - 75 grad pro reflexione absoluta (usque ad 85 grad cum 70 - 85 scaena specimen)

3. Detector rotationis range: 300 deg... 180 deg

4. Sample scaena rotationis range: -85 deg... 0 deg

Necem subranges, nmresolutio spectralis ultima, um (lumen non polarizatum)Necem accuratio, nmNecem repetere accurate, nm
185 - 350 nm0,3+/- 0,25+/- 0,125
350 (380) - 990 nm0,6+/- 0,5+/- 0,25
990 - 1650 nm1,2+/- 1,0+/- 0,5
1650 - 2450 nm1,2+/- 1,0+/- 0,5
2450 - 5200 nm2,4+/- 2,0+/- 2,0
Planum vagum lumen, % ad 532 nm .0,1
Angulus trabis distinctio+/-1 deg
Photometric accurate

(VIS)

NIST SRM 930e: +/-0,003 Abs (1Abs)

NIST SRM 1930: +/-0,003 Abs (0.33Abs); +/-0,006 Abs (2Abs)

(MWIR)

NRC NG11 SRM: +/-0,0013 Abs (0,13 Abs); +/-0,0053 Abs (0,49 Abs); +/-0,0011 Abs (0,82 Abs); +/-0,005 Abs (1,0 Abs)

Photometric repetere accurate (VIS range)

(VIS)

NIST SRM 930e: 0,0004 Abs (1 Abs)

NIST SRM 1930: 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (2 Abs)

(MWIR)

NRC NG11 SRM: +/-0,0003 Abs (0,13 Abs); +/-0,0008 Abs (0,49 Abs); +/-0,0022 Abs (0,82 Abs); +/-0,0034 Abs (1,0 Abs)

Determinato usura 0,1 secunda cumulus, maximus declinatio pro X mensuris subsequentibus

Stabilitas baseline, %/hora (VIS range)0,1 (una hora fermentum tempus)
Sine polarisation mensurae constructa in polarizers

a. S, P, (S + P)/2, Random

b. User definitur S:P ratio trabes incidentes (20/80, 30/70 etc.)

Inaedificata polarizers, nm220 - 1700220 - 3500220 - 5200380 - 1700380 - 3500380 - 5200
Nulla ordo / trabe viridisInaedificata, automatic
Fontes lucis, preinstalled

1. Halogen lucerna: 1 ea

2. HgAr necem verificationem calibratiis lucerna: I ea fi

 Deuterii lucerna: 1 eaDeuterii lucerna: 1 eaDeuterii lucerna: 1 ea   
   IR source: 1 ea  IR source: 1 ea
Fontes lucidi, parceHalogen lamp: 2 ea (included with shipment). Aliis orientibus lucis fontes ordinari possunt

 

  • LINZA 150
PARAMETERDESCRIPTIO
EXEMPLUM CONGRESSUS *
Lens diametro, mm

Transmissio: 10,0 - 150,0 mm

Reflexio: 10,0 - 90,0 mm

Reflexio mensuraeRadii Lens: -15,0 mm ... ∞ / +15,0 mm ... ∞
Transmittance measurementLongitudo focalis: -20,0 mm ... ∞ ... +20,0 mm
Lens conventus dimensionum, mm**.Ø150 x 240 (L)
Pix sampling ad determinandum punctum mensurae in superficie lentis (axis mensurationis medius), mm0,01

Maximum lens sem angulus

(axis mensurae reflectance), grad

55

Angulus incidentiae

(ex-axis / extemporalis axis mensurae reflectance), grad

12
OPTIC configuration
Efficax necem range, nm380 - 1700, 185 - 1700
Optical ratio monochromatisCzerny-Turner
opticaSpeculum, Al + SiO2, Al + MgF2
Reference channelYes
Necem sampling pix, nm0,5 100 up
Necem intuens celeritas, nm/min3 000 (ad 5 necem sampling picem);
Macula magnitudine in mensura exempli, mm

Transmissio: 4,0 2,5 mm

Meditatio: 1,0 1,0 mm

Photometric functiones%T, %R

Specimen senatus, nm ***

185 (380) – 990 nm

DCCLXXX - m MCD

 

2,0

4,0

Necem accuratio, nm0,24
Necem repetere accurate, nm+/- 0,12
Luce sparsum, % max (@ 532 um)<0,1
Photometric accurate

NIST SRM 930: +/-0.003 Abs (1 Abs)

NIST SRM 1930: +/-0.003 Abs (0.33 Abs); +/-0.006 Abs (2 Abs)

Photometric repetere accurate

NIST SRM 930: 0.0006 Abs (1 Abs)

NIST SRM 1930: 0.0002 Abs (0.33 Abs); 0.005 Abs (2 Abs)

Determinato usura 0,1 secunda cumulus, maximus declinatio pro X mensuris subsequentibus

Stabilitas baseline (UV-VIS), %/hora ****<0,1
lux fontibus

Halogen lucerna, Deuterii lucerna;

HgAr adsum calibration verificationem lucerna

INTERFACE, QUANTITAS ET PONDUS
InterfaceUSB 2.0
Potentia consummatio, Watt110
input potentia110, 220 VDC, 50 60-HZ
Latitudo x Profundum x Altitudo, mm680,0 440,0 360,0 (26 3/4 " x 17 1/3" x 14 1/5").
Net pondus, kg50
  • PHOTON RT

PHOTON RT UV-VIS-MWIR spectrophotometrum intuens specialiter destinatur ad incomitata mensurationem exemplorum opticorum cum coatingis. Instrumentum producitur in sex configurationibus relativis ad extensionem actuosam - ab 185 um usque ad 5200 um.

  • LINZA 150

LINZA 150 spectrophotometer ordinatur ad latitudinem transmissionis et reflexionis mensurae lentium et collectionum lentium (objectiva) totam novam dimensionem additis facultatibus metrologiae opticis tuis.

Lentes enim in multa varietate magnitudinis et figurae veniunt, quae difficillime metiuntur. Provocationes propriae cum in transmissione vel reflectentia in lentibus metiendis, fabrum opticorum saepe opus est notitias ex pluribus testium exemplis coniungere ut singula fundamentalia de optica lentis agendi ratione divellere possint. Nihilominus, ex natura cuiuslibet technologiae depositionis, litura lentium differt ab ea in testimonium specimen. Magis etiam insuperabile impedimentum opus est metiendi axem extemporalitatis observantiam lentis optici.

Cum LINZA 150, notitias transmissiones in axe et reflexione datas accipis in quovis superficiei lentis puncto, plane incomitata. Hoc efficit ut tantum lentes perfecti cum vestimentis perfectis clientibus tradantur et pro lens conventibus approbantur. Haec pretiosa notitia etiam nostris clientibus adiuvat ad analysim retrorsum analysim et emendare technologiam eorum depositionis.

LINZA 150 Spectrophotometer etiam magnum instrumentum est pro QA/QC lab ut lentium ex tua spectionem occurrat. Instrumentum aptissimum est utriusque exercitationis mensuras lentis et technologiae technologiae lens expolitio emendatio.

Product Page Contact Form

Pro pluribus productis et informationibus, preme hic

FAQ

Spectrophotometer est instrumentum ad lucem transmissionis metiendam / reflexionem in diversis aequalitatibus ad exempla. Communiter usus est in campis chemiae, physicae, biochemiae et biologiae hypotheticae.

Spectrophotometer operatur trabem lucis transeundo per exemplum et mensurae lucis quantitatem quae absorpta vel transmissa / reflectitur per specimen in diversis aequalitatibus. Elementa spectrophotometri fundamentalia includunt fontem lucidum, monochromator vel necem selector, specimen possessor et detector.

Usus spectrophotometer plures gradus involvit, incluso specimen praeparans, instrumentum erigens, opportunum range necem eligens, et absorbancem vel transmittentiam exempli mensurans. Hic ordo generalis est ad spectrophotometer utendum:

  1. Sample praeparatio: Praeparate specimen secundum protocollum specificum pro analysi. Exempli gratia, si intentionem interdum mensuret, solutionem dapibus notarum concentrationis idoneam quiddam utentem para.

  2. Calibratio: Praestare calibrationem instrumenti solutione blank utens vel signo noto ut mensuras accurate curet. Hoc fit, mensurans absorbancem vel transmissionem blank vel vexillum ad certum valorem et notans.

  3. Instrumentum constitue: Convertere in spectrophotometrum et sinito fovere paulisper. Pone esse ad valorem desideratum utens monochromator vel necem electrix. Aptare latitudinem fissuram ad aptam experientiam occasum.

  4. Sample measurement: Pone specimen in sample possessor, curans ut nullae sint bullae aereae vel immunditiae quae lectioni afficiant. Claudere specimen possessor et lectionem initialem notare.

  5. Mensura blank: Mensura absorbance vel transmissio solutionis blank vel convenientis exempli referendi. Hoc fit per reposuit specimen cum blank et metiendis lectionibus in eodem necem ac specimen.

  6. Analysis analysis: Lectio blank lectionis subtrahe ex exemplari lectionis ut corrigas pro quolibet background impedimento. Calculare intentionem vel alias proprietates specimen utendi apta curva vel vexilli calibrationis.

  7. Instrumentum purgatio: Munda exemplum possessor et quaelibet alia instrumenti partes quae cum sample ne contagione incurrere possunt.

Gravis est ut diligenter sequantur instructiones cum spectrophotometris specificis adhibitis et ad quaslibet necessarias qualitates moderandas rationes faciendas ut accurate et certos eventus curet.

LWOP, 27-30 June | Hall: B1 Booth: 422
Laser Korea, 5-7 | Booth: 4G34
LWOP India, 13-15 Septembris | Aula: 3 Booth: LF15
DSEI extensio, 12-15 Septembris | Booth: Vestibulum Pod 7
Commercial Sensu SPIE defensionis +, 2 - 4 May | Booth: 1320
Laser World of Photos, 27-30 June | Hall: B1 Booth: 422
Laser Mundus Photonics Indiae, 13-15 Septembris | Aula: 3 Booth: LF15
DSEI extensio, 12-15 Septembris | Booth: Vestibulum Pod 7