Objectifs à interférence de lumière blanche
Nos objectifs d'interférométrie à lumière blanche permettent un profilage de surface 3D sans contact et de haute précision. En interprétant les franges d'interférence, ils mesurent la topographie et les défauts pour le contrôle qualité dans des secteurs tels que l'aérospatiale, le photovoltaïque et la microélectronique.
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Objectifs à interférence Mirau
Dotés d'une structure compacte conçue pour produire des franges d'interférence à contraste élevé, nos objectifs garantissent un alignement précis du trajet optique entre le miroir de référence et la surface de l'échantillon. Compatibles avec tous les microscopes métallurgiques à mise au point à l'infini, ils sont conçus pour mesurer avec précision la topographie de surface, même sur des objets dont la réflectivité est aussi faible que 0.5 %.
Référence | WLI-Mir-10X-0.25 | WLI-Mir-10X-0.3 | WLI-Mir-20X | WLI-Mir-50X | |
Grossissement | 10X | 10X | 20X | 50X | |
Conception optique | Mirau | ||||
Ouverture numérique (NA) | 0.15 | 0.3 | 0.4 | 0.55 | |
Distance parfocale (mm) | 45 | ||||
Distance de travail (mm) | 7.4 | 7.4 | 3.5 | 1.7 | |
Distance focale (mm) | 20 | 20 | 10 | 4 | |
Profondeur de champ (µm) | 10 | 10 | 3.5 | 1.4 | |
Résolution (µm) | 1.34 | 1.34 | 0.8 | 0.61 | |
Champ de vision (mm) | ½”CCD | 0.65 x 0.45 (φ0.8) | 0.65 x 0.45 (φ0.8) | 0.33 x 0.23 (φ0.4) | 0.13 x 0.09 (φ0.16) |
Capteur CCD ½" + 0.5X | 1.3 x 0.9 (φ1.6) | 1.3 x 0.9 (φ1.6) | 0.65 x 0.45 (φ0.8) | 0.26 x 0.18 (φ0.32) | |
Diamètre (mm) | 28 | 30 | 28 | 27.6 | |
Poids (g) | 85 | 114 | 102 | 110 | |
Longueur d'onde de fonctionnement (nm) | 400 ~ 700nm | ||||
Réflectivité de l'échantillon (%) | ≥ 0.5% | ||||
Interface | 4/5X1/35’（M20.32X0.705） | ||||
Objectifs à interférence de Linnik
Dotées d'une structure Linnik à deux objectifs parfaitement appariés, nos lentilles interférométriques garantissent des longueurs de trajet optique identiques pour des mesures de haute précision. Compatibles avec les microscopes à mise au point à l'infini et les systèmes personnalisés, elles sont conçues pour les longues distances de travail et permettent de mesurer des échantillons présentant une réflectivité aussi faible que 0.5 %. Leur conception innovante à lumière blanche offre des images de surface nettes et des franges d'interférence précises, même sur des échantillons complexes.
Référence | WLI-Lin-5X | WLI-Lin-10X | |
Grossissement | 5X | 10X | |
Conception optique | Lien | ||
Ouverture numérique (NA) | 0.12 | 0.25 | |
| Distance parfocale (mm) | 80 | 80 | |
| Distance de travail (mm) | 17 | 17 | |
| Profondeur de champ (µm) | 40 | 10 | |
| Résolution (µm) | 1.34 | 1.34 | |
Champ de vision (mm) | ½”CCD | 1.3×0.9 (φ1.6) | 0.65×0.45 (φ0.8) |
| Capteur CCD ½" + 0.5X | 2.6 x 1.8 (φ 3.2) | 1.3 x 0.9 (φ 1.6) | |
Diamètre （mm） | 28 | 30 | |
Poids (g) | 85 | 114 | |
Interface | 4/5×1/36' | ||
Options | Adaptateur rotatif parfocal 95 mm | ||
Objectifs à interférence de Michelson
Conçu avec un séparateur de faisceau intégré à un objectif à longue distance de travail, notre interféromètre compact décale le miroir de référence sur le côté pour des performances optimales. Compatible avec tous les microscopes métallurgiques à mise au point à l'infini, il produit des franges d'interférence à contraste élevé et peut mesurer des objets dont la réflectivité atteint 0.5 %, ce qui le rend idéal pour les applications nécessitant un grossissement de 5x ou moins.
Référence | WLI-Mich-5X | |
Grossissement | 5X | |
Conception optique | Michelson | |
Ouverture numérique (NA) | 0.15 | |
Distance focale (mm) | 40 | |
Distance de travail (mm) | 9 | |
Profondeur de champ (µm) | 43 | |
Résolution (µm) | 2.8 | |
Champ de vision (mm) | ½”CCD | 1.3×0.9 (φ1.6) |
Capteur CCD ½" + 0.5X | 2.6 x 1.8 (φ 3.2) | |
Longueur d'onde de fonctionnement | 400 à 700 nm | |
Réflectivité de l'échantillon | ≥ 0.5% | |
Interface | 4/5X1/35’（M20.32X0.705） | |
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