Automatisierte Optikprüfung
(AOI) Maschinen

Entwickelt für die In-situ-Oberflächeninspektion von flachen Mikrooptiken, die in einer gewöhnlichen Gelbox mit gedruckten Rastern verpackt sind (im Handel erhältlich). Kalibriert, um Kratzer und Einkerbungen auf der Optikoberfläche gemäß US-Armee-Standard MIL-PRF-13830B und gleichwertigem Sichtbarkeitsspezifikationsstandard zu untersuchen.

Unser Angebot an OptiNspec-Modellen:
AMF: Automatische flache Mikrooptik-Inspektionsmaschine
AOF: Automatische Inspektionsmaschine für flache Optiken
MOF: Manuelle Flachoptik-Inspektionsmaschine

Wir suchen auch internationale Partner, um diese Spitzentechnologie in Ihrer Region zu vertreiben.

ArtikelnummerInspektionsartMax. Fachgröße (mm)Max. Probendurchmesser (mm)Bildauflösung (µm/px)Inspektionszeit (Sek./Stk.)Anwendbare Optik
MOF100Manuell-2614.0< 3 (25 mm Durchmesser Probe)Flache, leicht gebogene Optik (normal)
AOF101Stapel300 x 3002613.8< 3 (25 mm Durchmesser Probe)Flache, leicht gebogene Optik (normal)
AMF101Stapel300 x 30052.4< 3 (4.5 mm Durchmesser Probe)Flache, leicht gebogene Optik (Mikro)
AMF102Stapel76.2 x 50.852.4< 5 (1.5 mm x 1.5 mm Probe)Flache, leicht gebogene Optik (Mikro)
AMF103Stapel150 x 150126.0< 6 (3.6 mm x 3.6 mm Probe)Flache, leicht gebogene Optik (klein)
AMF104Stapel76.2 x 50.8122.5< 6 (1.5 mm x 1.5 mm Probe)Flache, leicht gebogene Optik (klein)

SPIE Photonik West, 31. Januar - 2. Februar | Stand: 2452
SPIE-Verteidigung + Kommerzielle Erkennung
, 2. - 4. Mai | Stand: 1320
Laserwelt der Photonik, 27.-30. Juni | Halle: B1 Stand: 422
Laserwelt der Photonik Indien, 13.-15. September | Halle: 3 Stand: LF15
DSEI, 12.-15. September | Stand: Herstellung Pod 7
Ausstellungen
  • SPIE Photonik West 2023, 31. Januar - 2. Februar | Stand: 2452
  • SPIE Defense + Commercial Sensing 2023, 2. - 4. Mai | Stand 1320
  • Laserwelt der Photonik, 27.-30. Juni | Halle B1 Stand 422