Spektralfotometer von EssentOptics

Spektralfotometer von EssentOptics

EssentOptics entwickelt hochgenaue Spektralphotometer für Beschichter, die sich ausschließlich auf optische Messanforderungen konzentrieren. Wavelength Opto-Electronic ist der autorisierte Distributor von Produkten der Marke EssentOptics in Singapur.

  • Das weltweit erste Spektralfotometer für optische Beschichter
  • Das weltweit einzige Instrument mit UV-MWIR-Polarisationsmessfunktion (220-5200 nm), eine einzigartige Gelegenheit, die einen tieferen Einblick in die tatsächliche Leistung optischer Beschichtungen bietet
 PHOTON RT Spektralfotometer. Produkt Konfiguration
 185 - 1700185 - 3500185 - 5200380 - 1700380 - 3500380 - 5200
PRODUKTSPEZIFIKATIONEN
Optisches Schema des MonochromatorsCzerny-Turner
OptikSpiegel, MgF2
ReferenzkanalJa
Wellenlängen-Abtastabstand, nm 0,1 - 100
Wellenlänge Scangeschwindigkeit, nm/min3 000 (bei 5 nm Wellenlängen-Abtastabstand)
Spotgröße auf der gemessenen Probe, nmVom Benutzer ausgewählt: 6 x 2 --> 2 x 2
Drehwinkel des Probentisches0,01 deg
Drehneigungswinkel von Photodetektoren0,01 deg
Strahlverschiebungskompensation-60,0 mm ... 0 ... +60,0 mm (tatsächlicher Wert abhängig von der Detektorposition)
Variable Winkelmessungen

1. 0 - 75 Grad für Durchlässigkeit (bis zu 85 Grad mit 70 - 85 Probentisch)

2. 8 - 75 Grad für absolute Reflexion (bis zu 85 Grad mit 70 - 85 Probentisch)

3. Drehbereich des Detektors: 300 Grad ... 180 Grad ... 16 Grad

4. Drehbereich der Probenbühne: -85 Grad ... 0 Grad ... +85 Grad

Wellenlängen-Unterbereiche, nmUltimative spektrale Auflösung, nm (nicht polarisiertes Licht)Wellenlängengenauigkeit, nmWellenlängen-Wiederholgenauigkeit, nm
185 - 350 nm0,3+/- 0,25+/- 0,125
350 (380) - 990 Nanometer0,6+/- 0,5+/- 0,25
990 - 1650 nm1,2+/- 1,0+/- 0,5
1650 - 2450 nm1,2+/- 1,0+/- 0,5
2450 - 5200 nm2,4+/- 2,0+/- 2,0
Streulichtpegel, % bei 532 nm˂0,1
Winkel der Strahldivergenz+/- 1 Grad
Photometrische Genauigkeit

(FISCHE)

NIST SRM 930e: +/-0,003 Abs (1 Abs)

NIST SRM 1930: +/-0,003 Abs (0.33 Abs); +/-0,006 Abs (2 Abs)

(MWIR)

NRC NG11 SRM: +/-0,0013 Abs (0,13 Abs); +/-0,0053 Abs (0,49 Abs); +/-0,0011 Abs (0,82 Abs); +/-0,005 Abs (1,0 Abs)

Photometrische Wiederholgenauigkeit (VIS-Bereich)

(FISCHE)

NIST SRM 930e: 0,0004 Abs (1 Abs)

NIST SRM 1930: 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (2 Abs)

(MWIR)

NRC NG11 SRM: +/-0,0003 Abs (0,13 Abs); +/-0,0008 Abs (0,49 Abs); +/-0,0022 Abs (0,82 Abs); +/-0,0034 Abs (1,0 Abs)

Ermittelt mit 0,1 Sekunden Akkumulation, maximale Abweichung für 10 Folgemessungen

Stabilität der Grundlinie, %/Stunde (VIS-Bereich)˂0,1 (eine Stunde Aufwärmzeit)
Unbeaufsichtigte Polarisationsmessungen mit eingebauten Polarisatoren

a. S, P, (S + P)/2, Zufällig

b. Benutzerdefiniertes S:P-Verhältnis für einfallenden Strahl (20/80, 30/70 usw.)

Eingebaute Polarisatoren, nm220 - 1700220 - 3500220 - 5200380 - 1700380 - 3500380 - 5200
Nullordnung / Grüner StrahlEingebaut, automatisch
Lichtquellen, vorinstalliert

1. Halogenlampe: 1 Stück

2. HgAr-Wellenlängenkalibrierungs-Überprüfungslampe: 1 Stück

 Deuteriumlampe: 1 StDeuteriumlampe: 1 StDeuteriumlampe: 1 St   
   IR-Quelle: 1 Stück  IR-Quelle: 1 Stück
Lichtquellen, ErsatzHalogenlampe: 2 Stück (im Lieferumfang enthalten mit Versand). Andere Ersatzlichtquellen können bestellt werden
PROBENFACH
Schwalbenschwanz-Grundplatte für ProbentischeKonzipiert für die Montage von motorisierten und nicht motorisierten Probentischen. Der integrierte Controller gewährleistet die sofortige Erkennung des motorisierten Tisches
Planarer Probentisch

Zur Messung von Transmission und Reflexion von ebenen Proben mit einer Größe von mehr als 12,0 x 10,0 mm

Unabhängige Positionierung

Unabhängige computergesteuerte Positionierung des Probentisches und der Photodetektoreinheit

Synchronisierte PositionierungSynchronisierte computergesteuerte Positionierung des Probentisches und der Photodetektoreinheit in Abhängigkeit von der ausgewählten photometrischen Funktion 
Größe der Proben

Mindest. 12,0 x 10,0 mm - für Messungen bei 0 - 10 Grad Einfallswinkel

Mindest. 12,0 x 25,0 mm - für Messungen bei 10 - 75 Grad Einfallswinkel

max. Stichprobengröße:

  • bis 152,4 mm (6") mit geschlossenem Deckel für Standard-Probentisch
  • bis 140,0 mm (5 1/2") mit geschlossenem Deckel für Z-Probentisch
Probenbühne für PBS-Würfel50,0 x 50,0 x 50,0 mm Probentisch mit zwei zusätzlichen Würfelhaltern 1" x 1" x 1" und 1/2" x 1/2" x 1/2"
Optionaler motorisierter und nicht motorisierter Probentisch

1. Tischbasis mit mehreren Positionen, motorisiert, automatische Erkennung

1.1 1" / 8-Positionen-Scheibe für Multipositions-Tischbasis

1.2 30,0 mm / 8-Positionen-Scheibe für Multipositions-Tischbasis

2. XY-Tisch. +/-12,5 mm Federweg. Probengröße 40,0 x 44,0 mm

3. Z-Stufe

4. 70 - 85 Grad AOI-Probentisch, nicht motorisiert (Photon Rt 1)

5. 70 - 85 Grad AOI-Probentisch, nicht motorisiert (Photon Rt 2)

BENUTZEROBERFLÄCHE, ABMESSUNGEN UND GEWICHT
SchnittstelleUSB 2.0, Windows-basiert, Englisch
Formate zum Speichern von Dateienres (txt), xls, pdf, csv
Leistungsaufnahme, Watt110
Leistungsaufnahme110 - 220 V (+/-10 %), 50 - 60 Hz
Umgebungstemperaturbedingungen+19 ... +26 Grad C
Breite x Tiefe x Höhe, mm (Zoll)422,0 х 656,0 х 285,0 (16 3/5" х 25 4/5" х 11 4/5"), einschließlich Griff und Füße
Nettogewicht, kg (lbs)50 (110)

  • Schnelle axiale Transmissionsmessung einzelner konvexer/konkaver Linsen 
  • Schnelle axiale Transmissionsmessung von Linsenbaugruppen (Objektiven) mit einer maximalen Objektivlänge von 240,0 mm
  • Unbeaufsichtigte On-Axis- und Off-Axis-Reflexionsmessung einzelner Linsen, die Messdaten praktisch von jedem Bereich der Linsenoberfläche (sowohl konvex als auch konkav) liefert. Ideal für die Feinabstimmung der Beschichtungstechnologie zur Herstellung von Beschichtungen auf Linsen

PARAMETER

BESCHREIBUNG

MUSTERFACH *

Linsendurchmesser, mm

Transmission: 10,0 - 150,0 mm

Reflexionsgrad: 10,0 - 90,0 mm

Reflexionsmessung

Linsenradius: -15,0 mm … ∞ / +15,0 mm … ∞

Transmissionsmessung

Brennweite: -20,0 mm ... ∞ ... +20,0 mm

Abmessungen der Linsenmontage, mm **

Ø150 x 240 (L)

Abtastabstand zur Bestimmung des Messpunktes auf der Linsenoberfläche (Off-Axis-Reflexionsmessung), mm

0,01

Maximaler Objektivneigungswinkel

(Off-Axis-Reflexionsmessung), Grad

55

Einfallswinkel

(On-Axis / Off-Axis-Reflexionsmessung), Grad

12

OPTISCHE KONFIGURATION

Effektiver Wellenlängenbereich, nm

380 - 1700, 185 - 1700

Optisches Schema des Monochromators

Czerny-Turner

Optik

Spiegel, Al + SiO2, Al + MgF2

Referenzkanal

Ja

Wellenlängen-Abtastabstand, nm

0,5 zu 100

Wellenlänge Scangeschwindigkeit, nm/min

3 000 (bei 5 Wellenlängen-Abtastabstand)

Punktgröße auf der gemessenen Probe, mm

Transmission: 4,0 х 2,5 mm

Reflexionsvermögen: 1,0 x 1,0 mm

Photometrische Funktionen

%T, %R

Spektrale Auflösung, nm ***

185 (380) – 990 Nanometer

990 - 1700 nm

2,0

4,0

Wellenlängengenauigkeit, nm

0,24

Wellenlängen-Wiederholgenauigkeit, nm

+ / - 0,12

Streulichtstärke, % max (@ 532 nm)

<0,1

Photometrische Genauigkeit

NIST SRM 930: +/-0.003 Abs (1 Abs)

NIST SRM 1930: +/-0.003 Abs (0.33 Abs); +/-0.006 Abs (2 Abs)

Photometrische Wiederholgenauigkeit

NIST SRM 930: 0.0006 Abs (1 Abs)

NIST SRM 1930: 0.0002 Abs (0.33 Abs); 0.005 Abs (2 Abs)

Ermittelt mit 0,1 Sekunden Akkumulation, maximale Abweichung für 10 Folgemessungen

Stabilität der Basislinie (UV-VIS), %/Stunde ****

<0,1

Lichtquellen

Halogenlampe, Deuteriumlampe,

HgAr-Lampe zur Überprüfung der Wellenlängenkalibrierung

SCHNITTSTELLE, ABMESSUNGEN UND GEWICHT

Schnittstelle

USB 2.0

Leistungsaufnahme, Watt

110

Leistungsaufnahme

110-220 VAC, 50-60 Hz

Breite x Tiefe x Höhe, mm

680,0 x 440,0 x 360,0 (26 3/4 “ x 17 1/3 “ x 14 1/5”)

Nettogewicht, kg

50

* Maximalwerte für jeden einzelnen geometrischen Parameter der Linse angegeben. Die endgültigen Messfähigkeiten des Instruments hängen von den tatsächlichen Abmessungen des jeweiligen Objektivs ab.

** maximale Größe (Durchmesser und Länge) der Linsenbaugruppe, die mit dem Spektralfotometer LINZA 150 gemessen werden kann

*** für optimales Signal-Rausch-Verhältnis

**** nach 1 Stunde Aufwärmzeit

Für weitere Produkte und Informationen klicken Sie hier

SPIE Photonik West, 31. Januar - 2. Februar | Stand: 2452
SPIE-Verteidigung + Kommerzielle Erkennung
, 2. - 4. Mai | Stand: 1320
Laserwelt der Photonik, 27.-30. Juni | Halle: B1 Stand: 422
Laserwelt der Photonik Indien, 13.-15. September | Halle: 3 Stand: LF15
DSEI, 12.-15. September | Stand: Herstellung Pod 7
Ausstellungen
  • SPIE Photonik West 2023, 31. Januar - 2. Februar | Stand: 2452
  • SPIE Defense + Commercial Sensing 2023, 2. - 4. Mai | Stand 1320
  • Laserwelt der Photonik, 27.-30. Juni | Halle B1 Stand 422