Beam-Profiler

Wir bieten eine Vielzahl von Lösungen zur Laserstrahlprofilierung an, um der Photonikbranche qualitativ hochwertige, erschwingliche und zuverlässige Produkte anzubieten.

  • Beam-Profiling-Kameras

Diese CMOS- und VO-Mikrobolometer-basierten Kameras decken einen breiten Bereich unterschiedlicher Wellenlängen von 190 nm bis 16 μm ab.

  • Scannen von Spaltstrahl-Profilern

Wir bieten zwei Arten von Scanning-Spaltstrahlprofilern an: die patentierte BeamMap-Serie, die M²-, Divergenz-, Fokus- und Ausrichtungsmanagement in Echtzeit bietet, und die Beam'R-Serie, die eine kostengünstige, kompakte und präzise Strahlprofilierung ermöglicht. Alle unsere scannenden Spaltstrahlprofilierer sind mit Si-, Ge- und InGaAs-Detektoren erhältlich und decken Wellenlängen von 190 nm bis 2500 nm ab.

  • Spezialisierte Strahlprofilierungssysteme

Neben Strahlprofilkameras und Spaltstrahlprofilmessgeräten bieten wir auch spezielle Strahlprofilmessgeräte an. Diese Systeme bieten Lösungen für komplexe Anwendungen. Das Großstrahl-Profilierungssystem eignet sich für Strahlen bis zu 200 mm im Bildbereich und das Linienlaser-Profilierungssystem ermöglicht die direkte Messung von Linienlasern bis zu 200 mm Länge.

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