LASERKOMPONENTEN Avalanche Photodiode APD

LASERKOMPONENTEN Avalanche Photodioden (APDs)

Ähnlich wie Photomultiplier werden APDs verwendet, um extrem schwache Lichtintensitäten zu detektieren. Si-APDs werden im Wellenlängenbereich von 250 bis 1100 nm und InGaAs als Halbleitermaterial in APDs für den Wellenlängenbereich von 1100 bis 1700 nm verwendet. Wavelength Opto-Electronic ist der autorisierte Distributor von Produkten der Marke LASER COMPONENTS in Singapur.

Silizium Avalanche Photodioden APD

Si-APDs sind für den Spektralbereich von 225nm bis 1100nm geeignet.

Silizium Avalanche Photodiode APD

Die Silizium-APDs der SAP-Serie werden hauptsächlich beim Photonenzählen verwendet. Diese Serie zeichnet sich durch höchste Effizienz und niedrigste Dunkelstromraten aus.

Dieser Detektor wurde speziell für biomedizinische Anwendungen entwickelt, bei denen kleinste Signale im kurzwelligen UV/blauen Spektralbereich erfasst werden müssen.

InGaAs Avalanche Photodioden APD

Die InGaAs APDs detektieren im Spektralbereich von 1100 nm bis 1700 nm. APDs der IAG-Serie weisen besonders hohe Schadensschwellenwerte auf. Beide sind in einem TO-46-Gehäuse verpackt.

Silizium Avalanche Photodioden APD Arrays

APD Array ermöglicht neue Anwendungen in LIDAR und ACC, die typischerweise in Time-of-Flight-Sensoren zur Entfernungsmessung verwendet werden.

Dies sind APDs mit angepasstem, integriertem Vorverstärker in kompakten hermetischen Gehäusen.

Avalanche Photodioden APD Modul

Schnelle und zuverlässige Lichtdetektion. Im APD-Modul ist der Treiber zum Betrieb der APDs bereits enthalten.

Hochspannungsmodule für Avalanche Photodioden APD

Für APDs und PIN-Photodioden eignen sich besonders Miniatur-Hochspannungsmodule.

Flash-Lidar-Sensor

Mit einer Auflösung von 2 x 192 Pixel und einem Rauschen < 50 cps eröffnet dieses 2D-Array neue Perspektiven für LiDAR-basierte Systeme in der Automobilindustrie oder Gestenerkennung.

Spad-Evaluierungsboard

Mit dem Evaluation Board kann der SPAD-Sensor für hochauflösende Imaging-Anwendungen schnell und einfach getestet werden. Eine USB 2.0 Schnittstelle erleichtert den Datenaustausch mit der Anwendungssoftware.

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SPIE Photonik West, 31. Januar - 2. Februar | Stand: 2452
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