Spektralfotometer von EssentOptics
Ein Spektrophotometer ist ein Instrument zur Messung der Lichttransmission/-reflexion bei verschiedenen Wellenlängen für Proben. Es wird häufig in den Bereichen Chemie, Physik, Biochemie und Molekularbiologie verwendet.
Ein Spektralfotometer funktioniert, indem es einen Lichtstrahl durch eine Probe leitet und die Lichtmenge misst, die von der Probe bei verschiedenen Wellenlängen absorbiert oder durchgelassen/reflektiert wird. Die Grundkomponenten eines Spektrophotometers umfassen eine Lichtquelle, einen Monochromator oder Wellenlängenwähler, einen Probenhalter und einen Detektor.
EssentOptics entwickelt hochgenaue Spektralphotometer für Beschichter, die sich ausschließlich auf optische Messanforderungen konzentrieren. Wavelength Opto-Electronic ist der Partner der Spektralphotometermarke EssentOptics für Singapur.
PHOTON RT UV-VIS-MWIR
| MODELL | 0217 | 0226 | 0252 | |||
| OPTISCHE KONFIGURATION | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Photometrische Funktionen | %T, %R | |||||
| Effektiver Wellenlängenbereich, nm | 185 – 1700 | 185 – 2600 | 185 – 5200 | |||
| Eingebauter Polarisator, nm | 220 – 1700 | 220 – 2600 | 220 – 5200 | |||
| Optisches Schema des Monochromators | Czerny-Turner | |||||
| Optik | Spiegel, MgF2 | |||||
| Referenzkanal | Ja | |||||
| Wellenlängen-Abtastabstand, nm | 0,25 – 100 | |||||
| Messfleckgröße auf der Probe, mm | 6 x 2 → 2 x 2 | |||||
| Drehwinkel des Probentisches | 0,01 deg | |||||
| Drehneigungswinkel von Photodetektoren | 0,01 deg | |||||
| Strahlverschiebungskompensation | -60,0 mm … 0 … +60,0 mm (Der tatsächliche Wert hängt von der Detektorposition ab.) | |||||
| Variable Winkelmessungen | 1. 0 – 75 Grad für Transmission (bis zu 85 Grad mit 7085 Abtaststufe) | |||||
| Wellenlängen-Unterbereiche, nm | Ultimative spektrale Auflösung, nm (nicht polarisiertes Licht) | Wellenlängengenauigkeit, nm | Wellenlängen-Wiederholgenauigkeit, nm | |||
| 185 – 990 nm | 0,6 | + / - 0,5 | + / - 0,25 | |||
| 990 – 1700 / 2450 / 2600 nm | 1,2 | + / - 1,0 | + / - 0,5 | |||
| 2450 - 5200 nm | 2,4 | + / - 2,0 | + / - 1,0 | |||
| Streulichtpegel, % bei 532 nm | ˂ 0,1 | |||||
| Winkel der Strahldivergenz | +/- 1 Grad | |||||
Photometrische Genauigkeit (VIS-NIR-Bereich) Standardreferenzmaterialien, kalibriert auf einem NIST-rückführbaren Spektralphotometer | (VIS-NIR) +/-0,0045 Abs (1 Abs); +/-0,0025 Abs (0,33 Abs); +/-0,0058 Abs (1.5 Abs) | |||||
Wiederholgenauigkeit der Photometrie (VIS-NIR-Bereich) Ermittelt mit 0,1 Sekunden Akkumulation, maximale Abweichung für 10 Folgemessungen | (VIS-NIR) 0,0004 Abs (1 Abs); 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (1.5 Abs) | |||||
| Stabilität der Grundlinie, %/Stunde (VIS-Bereich) | < 0,1 (eine Stunde Aufwärmzeit) | |||||
| Unbeaufsichtigte Polarisationsmessungen mit eingebauten Polarisatoren | S, P, (S + P) / 2 | |||||
| Nullordnung / Grüner Strahl | Eingebaut, automatisch | |||||
| Lichtquellen, vorinstalliert | 1. Deuteriumlampe: 1 Stück | |||||
| Lichtquellen, Ersatz | Halogenlampe: 2 Stück (im Lieferumfang enthalten). Weitere Ersatzlichtquellen können zusätzlich bestellt werden. | |||||
PHOTON RT 0420
| OPTISCHE KONFIGURATION | |
| Optisches Schema des Monochromators | Doppeladditiv-Czerny-Turner |
| Optik | Spiegel, geschützt Ag |
| Referenzkanal | Ja |
| Wellenlängen-Abtastabstand, nm | 0,01 bis 100 |
| Messfleckgröße auf der Probe, mm | 4 x 3 |
| Photometrische Funktionen | %T, OD |
| Effektiver Wellenlängenbereich, nm | 340 – 2000 |
Ultimative spektrale Auflösung, nm 400-990 nm 990-2000 nm |
0,06 0,13 |
Wellenlängengenauigkeit, nm 400-990 nm 990-2000 nm |
+ / - 0,02 + / - 0,04 |
Wellenlängen-Wiederholgenauigkeit, nm 400-990 nm 990-2000 nm |
+ / - 0,01 + / - 0,02 |
Ultimative optische Dichte, -log10(T) 340-420 nm 420-925 nm 925-2000 nm |
6 8 7 |
| Streulichtpegel, % bei 532 nm | < 0,000001 (1x10E-6) |
| Winkel der Strahldivergenz, Grad | + / - 0,2 |
| Photometrische Genauigkeit | (VIS-NIR) |
| Photometrische Wiederholgenauigkeit | (VIS-NIR) 0,0004 Abs (1 Abs); 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (1.5 Abs) |
| Stabilität des Ausgangswerts, %/Stunde | < 0,2 (eine Stunde Aufwärmzeit) |
| Lichtquellen | Hochenergie-Plasmaquelle, HgAr-Wellenlängenkalibrierlampe. Alle Quellen integriert und vorkonfiguriert |
PHOTON RT 7514 LWIR
| OPTISCHE KONFIGURATION | |
| Photometrische Funktionen | %T, %R |
| Effektiver Wellenlängenbereich, µm | 7,5 – 14,0 |
| Eingebaute Polarisatoren, µm | 7,5 – 14,0 |
| Optisches Schema des Monochromators | Czerny-Turner |
| Optik | Spiegel: Au, Linsen: ZnSe + AR |
| Messung der Transmission | Variable Winkelmessungen: Einfallswinkel 0 – 60 Grad |
| Reflexionsmessung | Austauschbare Probentische mit festen Einfallswinkeln: 10, 30, 45 und 60 Grad Referenzmuster: Goldspiegel |
| Drehwinkel der Probenbühne, Grad | 0,01 |
| Balkenverschiebungskompensation, mm | 40 |
| Unbeaufsichtigte Polarisationsmessungen mit eingebauten Polarisatoren | S, P, (S + P) / 2 |
| Wellenlängen-Abtastabstand, nm | 5 – 100 |
| Fleckgröße auf der gemessenen Probe (unpolarisiertes Licht), mm | 2,0 x 6,0 (B x H) |
| Ultimative spektrale Auflösung (unpolarisiertes Licht), nm | 15 |
| Wellenlängengenauigkeit, nm | + / – 4,0 |
| Wellenlängen-Wiederholgenauigkeit, nm | + / – 2,0 |
| Photometrische Genauigkeit (Ge-Probe 3 mm dick, 47 % T, λ)0 = 10,6 µm, AOI = 40) | + / – 0,2 % |
| Photometrische Wiederholgenauigkeit | + / – 0,1 % |
| Stabilität des Ausgangswerts (7,8 µm – 13,0 µm), % / Stunde* | + / – 0,3 % |
| Streulichtanteil (7,5 µm – 12,0 µm), % | <0,2 |
| Lichtquellen | IR-Lampe HgAr Wellenlängenkalibrierungs-Verifizierungslampe |
Linz 150
| MODELL | 0217 | 0417 |
PARAMETER | BESCHREIBUNG | |
|---|---|---|
| OPTISCHE KONFIGURATION | ||
| Photometrische Funktionen | %T, %R | |
| Effektiver Wellenlängenbereich, nm | 185 – 1700 | 380 – 1700 |
| Optisches Schema des Monochromators | Czerny-Turner | |
| Optik | Spiegel, Al + SiO2, Al + MgF2 | |
| Referenzkanal | Ja | |
| Wellenlängen-Abtastgeschwindigkeit, nm / min | 3000 (bei einer Abtastrate von 5 Wellenlängen) | |
| Punktgröße auf der gemessenen Probe, mm | Transmissionsgrad: 6,0 x 5,5 Reflexionsgrad: 1,0 x 1,0 | |
| Wellenlängen-Abtastabstand, nm | 0,25 – 100 | |
Ultimative spektrale Auflösung, nm 185 (380) – 990 Nanometer 990 - 1700 nm |
2,00 4,00 |
2,00 4,00 |
| Wellenlängengenauigkeit, nm | 0,5 | |
| Wellenlängen-Wiederholgenauigkeit, nm | + / – 0,25 | |
| Streulichtstärke, % max (@ 532 nm) | <0,1 | |
| Photometrische Genauigkeit | (VIS-NIR) +/-0,0045 Abs (1 Abs); +/-0,0025 Abs (0,33 Abs); +/-0,0058 Abs (1.5 Abs) | |
| Photometrische Wiederholgenauigkeit | (VIS-NIR) 0,0004 Abs (1 Abs); 0,0001 Abs (0,33 Abs); 0,005 Abs (1.5 Abs) | |
| Stabilität des Ausgangswerts (UV-VIS), % / Stunde | <0,1 | |
| Lichtquellen | Deuteriumlampe, Halogenlampe, HgAr-Wellenlängenkalibrierungs-Verifizierungslampe | Halogenlampe, HgAr Wellenlängenkalibrierungs-Verifizierungslampe |
LINZA 2752 MWIR
| OPTISCHE KONFIGURATION | |
| Photometrische Funktionen | %T |
| Effektiver Wellenlängenbereich, nm | 2700 – 5200 |
| Optisches Schema des Monochromators | Czerny-Turner |
| Optik | Spiegel: Al + MgF2Linsen: CaF2 |
| Referenzkanal | Ja |
| Wellenlängen-Abtastabstand, nm | 0,5 – 100 |
| Wellenlängen-Abtastgeschwindigkeit, nm / min | 3000 (bei einer Abtastrate von 5 Wellenlängen) |
| Punktgröße auf der gemessenen Probe, mm | von 4.0 x 3.0 bis 8.0 x 6.0 |
| Typische spektrale Auflösung, nm* | 8,0 |
| Wellenlängengenauigkeit, nm | 4,0 |
| Wellenlängen-Wiederholgenauigkeit, nm | + / – 2,0 |
| Streulichtanteil, % des Maximalwerts | 0,2 |
| Photometrische Genauigkeit** | NRC NG11 SRM; +/-0.010Abs (0,49Abs) +/-0.011Abs (0,82Abs) +/-0.013Abs (1,00Abs) +/-0.015Abs (1,26Abs) |
| Photometrische Wiederholgenauigkeit** | NRC NG11 SRM: +/-0.0016Abs (0,49Abs) +/-0.0036Abs (0,82Abs) +/-0.008Abs (1,00Abs) +/-0.013Abs (1,26Abs) |
| Stabilität des Ausgangswerts, % / Stunde** | + / – 0,3 |
| Lichtquellen | IR-Lampe |
Informationen zu Spektralphotometern von EssentOptics
PHOTON RT
PHOTON RT ist das weltweit einzige Spektrophotometer, das speziell für die optische Beschichtungsmesstechnik entwickelt wurde und eine aussagekräftige, rückführbare Charakterisierung von Beschichtungen unter praxisnahen Betriebsbedingungen ermöglicht. Es kombiniert auf einzigartige Weise Breitband-Polarisationskontrolle und Messungen unter variablem Winkel in einem unübertroffenen UV- bis MWIR-Bereich (220–5200 nm) und liefert so tiefe Einblicke in die reale Leistungsfähigkeit von Dünnschichtoptiken.
PHOTON RT 420
Mit einer beispiellosen spektralen Auflösung von 0.06 nm bietet das PHOTON RT 0420 Ultra unübertroffene Flexibilität für die Leistungsqualifizierung modernster Filter. Seine fortschrittlichen Funktionen ermöglichen Breitbandmessungen bis hinunter zu OD8 und die Charakterisierung von Flankensteilheiten bis zu 0.02 %.
Die PHOTON RT 0420 Ultra wurde entwickelt, um den hohen Anforderungen an Ultra-Beschichtungen gerecht zu werden. Sie verfügt über einen Wellenlängenbereich von 340 nm bis 2000 nm und ist für eine Vielzahl von Beschichtungen für fortschrittliche Anwendungen geeignet, darunter LIDARs, Fluoreszenzmikroskopie, Lasersicherheit, Telekommunikation, Weltraumforschung, Verteidigung und Sicherheit.
PHOTON RT 7514 LWIR
Präzise und zuverlässige Infrarotspektralmessungen optischer Beschichtungen stellen heute eine der größten Herausforderungen dar. Optische Hersteller weltweit spezifizieren zunehmend hochentwickelte IR-Beschichtungen für ihre planaren Optiken, um die Objekterkennung und -identifizierung auf große Entfernungen zu verbessern. Häufig übersteigt die Produktionskapazität für diese optischen Beschichtungen die bestehenden messtechnischen Möglichkeiten zur Qualitätszertifizierung.
Das Spektralphotometer PHOTON RT 7514 ist ein speziell entwickeltes Instrument, das diese Herausforderungen effektiv meistert. Es misst die Transmission und Reflexion von Beschichtungen im langwelligen Infrarotbereich (LWIR). Eine herausragende Eigenschaft des PHOTON RT 7514 ist seine Fähigkeit, automatische Messungen mit polarisiertem Licht bei variablen Einfallswinkeln (bis zu 60 Grad) durchzuführen. Um diese anspruchsvollen Tests zu unterstützen, kompensiert eine integrierte Funktion präzise die Strahlverschiebung bei hohen Winkeln und gewährleistet so Messungen mit S- und P-Polarisation innerhalb weniger Minuten. Es unterstützt eine maximale Probendicke von 40 mm.
Linz 150
Das Spektralphotometer LINZA 150 ist für die Breitband-Transmissions- und Reflexionsmessung von Linsen und Mehrlinsenanordnungen (Objektiven) konzipiert und eröffnet Ihnen damit völlig neue Möglichkeiten in der optischen Messtechnik.
Tatsächlich gibt es Linsen in einer Vielzahl von Größen und Formen, was ihre Messung extrem erschwert. Aufgrund der inhärenten Herausforderungen bei der Messung der Transmission oder Reflexion von Linsen müssen Optikingenieure häufig Daten mehrerer Vergleichsproben kombinieren, um grundlegende Details über die optische Leistung einer Linse zu ermitteln. Aufgrund der Beschaffenheit jeder Beschichtungstechnologie unterscheidet sich die Beschichtung von Linsen jedoch von derjenigen der Vergleichsprobe. Eine noch größere Hürde stellt die Notwendigkeit dar, das Verhalten der optischen Linse außerhalb der optischen Achse zu messen.
Mit LINZA 150 erhalten Sie vollautomatisch Transmissionsdaten entlang der optischen Achse und Reflexionsdaten an jedem beliebigen Punkt der Linsenoberfläche. So stellen wir sicher, dass nur einwandfreie Linsen mit perfekten Beschichtungen an unsere Kunden geliefert und für die Montage freigegeben werden. Diese wertvollen Daten helfen unseren Kunden außerdem, ihre Beschichtungstechnologie rückwirkend zu analysieren und zu optimieren.
Das Spektralphotometer LINZA 150 ist ein hervorragendes Instrument für Ihr QA/QC-Labor und stellt sicher, dass die Linsen Ihres Lieferanten Ihren Spezifikationen entsprechen. Es eignet sich ideal sowohl für routinemäßige Linsenmessungen als auch für die anspruchsvolle Optimierung von Linsenbeschichtungstechnologien.
LINZA 2752 MWIR
Die meisten optischen Bauteile sind Linsen. Linsen gibt es in einer Vielzahl von Formen und Größen, darunter konvexe, konkave, zylindrische und asphärische. Die Linsen werden in Vakuumkammern beschichtet, bevor sie auf der Halterung oder dem Planetenrotationshalter montiert werden.
Aufgrund der Beschaffenheit des Vakuumbeschichtungsverfahrens ist es nicht möglich, die tatsächliche Transmission oder Reflexion von Linsen in Echtzeit zu messen. Daher werden für die Prozessüberwachung stets ebene Referenzproben verwendet. Die Beschichtung von Linsen weicht jedoch häufig von der der Referenzprobe ab. Für viele Anwendungen ist die Kenntnis der Transmission der realen Linse entscheidend. Die tatsächliche optische Leistung kann oft erst analysiert werden, wenn alle Linsen im optischen System installiert sind. Die Identifizierung der fehlerhaften Linse kann erheblichen Zeit- und Arbeitsaufwand erfordern. Diese Kosten steigen bei Systemen und Objektiven mit mehreren Linsen noch weiter an. Selbstverständlich muss auch die spektrale Leistung kompletter Objektive bewertet werden.
Das Spektralphotometer LINZA 2752 bewältigt diese Herausforderungen effektiv bei der axialen Transmissionsmessung von MWIR-Linsen und -Objektiven. Dank seines großen Messraums und der verschiebbaren Detektoren lassen sich einzelne Linsen mit Durchmessern von 10 mm bis 150 mm sowie komplette Linsensysteme mit einer Gesamtlänge von bis zu 500 mm zuverlässig vermessen.
Weitere Produkte und Informationen finden Sie auf unserer Hauptwebsite.
